1.0um,3.0um,5.0um-标准片ALUMINUM （Al）铝1.0um,3.0um,5.0um-深圳市安达仪器仪表有限公司手机版

详细介绍

测厚仪标准片,校正片,又称标准箔,膜厚片,通用于所有X射线镀层测厚仪（进口品牌Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer XRF-2000、Seiko SII等,国产天瑞,纳优等）

1. 薄膜片,单层测量品种：镍（Ni）；铬（Cr）；铜（Cu）；锌（Zn）；Cd（4）；锡（Sn）；银（Ag）；金（Au）;钯（Pd）等，其它镀层可定制.

2. 镀层标准片:双镀层：Au/Ni/xx，三镀层：Au/Pd/Ni/xx等.

3. 合金标准片：合金镀层测量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni 、Ni-P 等.

4. 测量厚度范围：0.01~300μm.（特别厚度可订做）.

5. 我们还有ROHS标准片,标准物件.

6. 涂层测厚仪塑料标准片等.

7. 电解测厚仪标准片/库仑测厚仪标准片

客户在我的时候请了解清楚自己所需要使用的元素及厚度，以便我们更好的沟通与合作,谢谢！