NBET荧光寿命测定系统
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北京纽比特科技有限公司
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集成型测量荧光寿命的测试系统，测量范围从亚纳秒到毫秒量级，该系统操作简单，只需要放入样品，进入测量软件界面输入测试条件，极短时间内可获得高精度的荧光寿命，光致发光光谱，整个测量过程只需要60s即可完成。
测量荧光寿命材料的荧光光谱参数对评估材料的性能非常重要，这些参数包括峰值波长，荧光强度。但是当材料含有多种物资和相互反应的元素时，仅仅获得荧光光谱是不够的，因为它只显示光谱的时间积分信息。一
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