介电常数及介质损耗测试仪的技术指标
时间:2018-03-10 阅读:256
介电常数及介质损耗测试仪的技术指标
介电常数及介质损耗测试仪是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至zui低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。
本仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
二、介电常数及介质损耗测试仪技术指标
1. 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
2. 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
3. 双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。
4. 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
5. 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
6. DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高、幅度的高稳定。
7. 计算机自动修正技术和测试回路*化 —使测试回路 残余电感减至zui低,** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
8. 介电常数及介质损耗测试仪使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质,无须关注量程和换算单位。
技术特性
型号 | GCSTD-B | GCSTD-A |
Q 值测量范围 | 2 ~ 1023 , 量程分档: 30 、 100 、300 、 1000 ,自动换档或手动换档 | Q值测量范围:2~1023。 Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
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固有误差 | ≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~10MHz ) ≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz) | 20kHz~10MHz ≤5%±满度值的2%; 10MHz~50MHz; ≤6%±满度值的2%;。 |
工作误差 | ≤7% ± 满度值的2% ( 200kHz ~10MHz ) ≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz) | 20kHz~10MHz ≤7%±满度值的2%; 10MHz~60MHz; ≤8%±满度值的2% |
电感测量范围 | 4.5nH ~ 140mH | 14.5nH~8.14H |
电容直接测量范围 | 1 ~ 200pF | 1~460pF |
主电容调节范围 | 18 ~ 220pF | 30~500pF 150pF以下±1.5pF; |
主电容调节准确度 | 120pF 以下 ± 1.2pF ; 120pF 以上 ± 1% | 150pF以上±1% |
信号源频率覆盖范围 | 100kHz ~ 160MHz | 10kHz~50MHz |
频率分段 ( 虚拟 ) | 100 ~ 999.999kHz , 1 ~9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100~ 160MHz | 10~99.9999kHz 100~999.999kHz 1~9.99999MHz 10~60MHz |
频率指示误差 | 3 × 10 -5 ± 1 个字 | 3×10-5±1个字 |
三、介电常数及介质损耗测试仪正常工作条件
a. 环境温度:0℃~+40℃;
b.相对湿度:<80%;
c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
四、介电常数及介质损耗测试仪产品配置:
a.测试主机一台;
b.电感9只;
c.夹具一套
a.消耗功率:约25W;
b.净重:约7kg;
c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
d.测试样品尺寸:直径为Φ50mm/Φ38mm 厚度为0.5-15MM
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