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UM-2超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。UM-2分辨力0.01,超声波测厚仪具有zui小厚度值捕捉模式:可选择显示当前厚度值或zui小厚度值;数据存储;报警功能。
UM-2技术数据
工作原理:脉冲~回波方式
测量范围:0.8~
取决于所用探头、所测材料、表面状况
单位和显示分辨率:毫米-0.01,0.1 英寸-0.001,0.01
探头零点校准:
一点校准(用于常规的厚度测量)
两点校准(测量曲面壁厚或特殊应用时,可显著提高测量精度)
V路径修正:
自动V声程修正,补偿双晶探头的非线性度
示值误差:±0.05mm(10mm以下) ±0.5%H+0.01(10mm以上)
注:H为被测物厚度
重复性:±0.05mm
显示屏:128×64点阵液晶屏(42×57毫米)
具有EL背光,可调节对比度
厚度值数字高度可达13.75毫米
测量刷新频率:常规测量时4Hz,zui小值扫查时25Hz
材料声速范围:1000~
数据存储:划分5个数组,可存储500个厚度值
工作语言:中文、英文
电源:两节1.5VAA电池
当电池电量不足时,有低电压提示
操作时间:两节5号电池,使用时间可达200小时
自动关机:5分钟无操作后自动关机
工作温度:-10℃~+
尺寸;149mm×73mm×32mm(H×W×D)
重量:含电池200g
标准配置:UM系列测厚仪;标配探头;仪器箱;两节碱性电池;耦合剂;操作手册;合格证;装箱单
选配件
橡胶外套;众多可供选择的探头;校准用阶梯试块;耦合剂及高温耦合剂