UM-1超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。UM-1超声波测厚仪具有zui小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或zui小厚度值；数据存储；报警功能。

UM-1技术数据

工作原理：脉冲～回波方式

测量范围：0.8～300mm

取决于所用探头、所测材料、表面状况

单位和显示分辨率：毫米-0.1 英寸-0.01

探头零点校准

一点校准（用于常规的厚度测量）

两点校准（测量曲面壁厚或特殊应用时，可显著提高测量

精度

V路径修正

自动V声程修正，补偿双晶探头的非线性度

示值误差:±0.1mm（10mm以下）  ±0.5%H+0.01（10mm以上）

注：H为被测物厚度

重复性:±0.1mm

显示屏:128×64点阵液晶屏（42×57毫米）,具有EL背光，可调节对比度,厚度值数字高度可达13.75毫米

测量刷新频率:常规测量时4Hz，zui小值扫查时25Hz

材料声速范围:1000～9999m/s，0.0394～0.3937in/us

数据存储:划分5个数组，可存储500个厚度值

工作语言:中文、英文

电源:两节1.5VAA电池,当电池电量不足时，有低电压提示

操作时间:两节5号电池，使用时间可达200小时

自动关机:5分钟无操作后自动关机

工作温度:-10℃～+50℃，有特殊要求可达-20℃

尺寸:149mm×73mm×32mm（H×W×D）

重量:含电池200g

标准配置:UM系列测厚仪

标配探头

仪器箱

两节碱性电池

耦合剂

操作手册

合格证

装箱单

可选配件：

橡胶外套；众多可供选择的探头；校准用阶梯试块；耦合剂及高温耦合剂