薄膜测厚仪

型号:GKDJ-SGC10

库号：M36861

厚度范围
20nm-50um（只测膜厚），
100nm-10um（同时测量膜厚和光学常数n，k）
根据薄膜材料的种类，其范围有所不同。

准确性 <1nm或<0.5%
重复性 0.1nm
波长范围 380nm-1000nm
可测层数 1-4层
样品尺寸 样品镀膜区直径>1.2mm
测量速度 5s-60s
光斑直径 1.2mm-10mm可调
样品台 290mm*160mm
光源 长寿命溴钨灯（2000h）
光纤 纯石英宽光谱光纤
探测器 进口光纤光谱仪
电源 AC100V-240V，50HZ-60HZ
重量 18kg
尺寸 300mm*300mm*350mm