覆层测厚仪（）

型号:SD1-TT240

库号：M118759

技术参数
测头类型：N
测量原理：电涡流
测量范围： 0-1250um | 0-40um（铜上镀铬）
低限分辨力：1µm（10um以下为0.1um）
探头连接方式：分体式导线连接
示值误差：
一点校准（um）：±[3%H+1.5]
两点校准（um）：±[（1%~3%）H+1.5]
测量条件：
zui小曲率半径（mm）：凸3 | 凹10
基体zui小面积的直径（mm）：ф5
zui小临界厚度（mm）：0.3
温湿度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
统计功能：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）
测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
上下限设置：无
存储能力：350个测量值
打印/连接计算机：可选配打印机/能连接电脑
关机方式：手动和自动
电源：二节AA型碱性电池
外形尺寸：152×47×35mm
重量：370g
SD1-TT240覆层测厚仪|薄膜测厚仪基本配置
主机
铝基体
标准片一套|五片
二节AA型（5号）1.5V电池
仪器保护套
SD1-TT240覆层测厚仪|薄膜测厚仪使用说明书
涂层测厚仪可选附件
SD1-TT240打印机