台式硅酸根分析仪 仪表

台式硅酸根分析仪 仪表

测量范围 0~199.9μg/LSiO2基本误差≤±2.5%FS重复性误差≤±0.5%FS短期漂移（30分钟） ： ≤±0.5%FS长期漂移(24小时） ： ≤±2.5%FS化学方法 ：硅钼兰光度法GB 12150—89

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