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经销商厂商性质
所在地
• 透明法和 X 射线摄影
• 电离和剂量学
• X 射线随不同物质和厚度的衰减
• 研究 X 射线源的连续和特征谱线
• 特征谱线和它们的精细结构
• 原子的精细结构和壳层模型
• 与能量有关的吸收和 K 连缘
• Moseley （莫塞莱）定律和测定 Rydberg （里德堡）频率
• Comptom （康普顿）效应
• Duane-Hunt 关系从极限波长测定 Planck ( 普朗克常数 )
• 用于测定个中晶体晶面间隔的 Bragg( 布拉格 ) 反射
• 通过 Laue ( 劳厄 ) 相和 Debye-Scherrer ( 德拜－施拉 ) 摄像术研究晶体结构
• 在多晶金属箔和粉末样品上进行 X 射线衍射，分析晶体结构
• 利用 X 射线进行材料分析
