Surfix F铁基统计型测厚仪-苏州大星精密仪器仪表有限公司手机版

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Surfix F外置探头铁基统计型测厚仪|膜厚仪|膜厚计

特点:1.德国菲尼克斯公司制造
       2.碳化钨超耐磨测头,特快反应速度
       3.同屏显示统计数据
       4.可存储前200测值
       5.可测铁基体上涂镀层
       6.基体上涂层,量程1500μm
       7.精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
       8.有红外可接PC及打印机

技术参数：
测量范围	0-1500µm,0 - 60mils
误差	±（1µm+1%读数）
分辨率	0.1µm或小于读数的2%
显示	背光，字母加数字，10mm高，4位数字显示
基体zui小面积	5mmX5mm
基体zui小曲率	凸面：1.5mm 凹面：5mm
基体zui小厚度	F型：0.2mm ,N型： 50µm
校准	厂家校准，零校准，校准箔校准
*数据统计（统计型）**	读数个数（zui多9999个），平均值，标准偏差，zui大值和zui小值
*数据存储（统计型）**	zui多200个测量数值,可单独调出
*数据值（统计型）**	上下限可调,声音报警
数据接口	红外通讯,IrDA标准
环境温度/表面温度	0-50℃/60℃ （可选配150℃）
电源	两节1.5伏五号碱性电池
仪器尺寸	137x66x23mm
符合标准	DIN，ISO，ASTM，BS

产品简介

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