扬州拓普电气科技有限公司提供的抗干扰介质损耗测试仪BC2690B图文资料

智能化抗干扰介质损耗测试仪是一种测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）测量。仪器具有操作简单、无需数据换算、中文菜单显示、并自带打印功能、抗干扰强、测试速度快等特点。
工作原理
仪器测量线路包括一路标准回路和一路测试回路：
1、标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成，由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差，并由之算出被测试品电容容值（CX）和其介质损耗（tgδ）。
2、数据采集电路全部采用高压稳定器件，采集板和采集计算机被铁盒*浮空屏蔽，仪器外壳地屏蔽；另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术，加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理，使测量结果稳定、可靠。 
技术指标
1、环境温度：0～40℃       
2、相对湿度：30% ～70% 
3、供电电源：电压：220V±10%、频率：50±1Hz 
4、外形尺寸：500mm×300mm×400mm 
5、重量：约18Kg           
6、输出功率：0.6KVA 
7、显示分辩率：3位、4位（内部全是6位） 
8、测量范围及输出电压选择：
    介质损耗（tgδ）：±0.00～±999% 
    试品电容容量（Cx）和加载电压： 
    2.5KV档:≤300nF(300000pF)      3KV档:≤200nF(200000pF) 
    5KV档:≤76nF(76000pF)          7.5KV档:≤34nF(34000pF) 
    10KV档:≤20nF(20000pF) 
9、基本测量误差：
    介质损耗（tgδ）：1%±7个字(加载电流20uA～500mA) 
    介质损耗（tgδ）：2%±9个字(加载电流5uA～20uA) 
    电容容量(Cx)：1.5%±1.5pF

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