美国泛美35/35DL超声波高精度测厚仪

35/35DL美国泛美35/35DL超声波高精度测厚仪

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2022-02-11 08:00:52
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产品简介

美国泛美35/35DL超声波高精度测厚仪
35系列

Panametrics-NDT 系列35超声波高精度测厚仪在难以或是不可能进入测试材料另一侧的应用场合能提供使用简单并且经济的解决方案。这些结实耐用的袖珍型仪器能对大多数外形和大小不一的材料做稳定、重复的厚度测量。精确的厚度测量值以大数字形式显示在LCD显示屏上,或者在选项A-SCAN模式下伴随着实时波形一起显示。

新功能:

详细介绍

新功能:

35系列功能

35和35DL

35和35DL用于大多数的应用中

35和35DL可使用的探头范围从2.25到30MHz,这意味着这些多功能型仪器可以解决大部分从极薄到极厚的厚度测量应用。一般而言,高频小直径的探头用于较薄或者曲面工件的测量,并且能提高测量的精度

应用

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