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产品特征
＊ 采用能量色散X荧光分析技术（EDXRF），实现多种元素同时测量。
＊ 可根据用户的应用要求配置为从Na到U的任意多种元素。
＊ 采用多种措施优化光路设计和配置，保证了特征X射线的探测效率。
＊ 采用50W侧窗X射线管，功耗低、寿命长，对轻重元素均有较高的激发效率。
＊ 基于Windows2000/XP的程序功能丰富，各种图表和趋势图为决策提供zui直
观的支持。数据可直接输出到Excel或WORD，便于进行统计分析。
＊ 备有基于神经网络模型的经验系数法建模，非常稳定可靠。
| UX-300 | ||||
| 分析原理 | 能量色散X射线荧光分析法 | |||
| 分析元素 | Na ～U任意元素 | |||
| 检出下限(Cd/Pd) | Cd/Pb/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm | |||
| 样品形状 | 任意大小，任意不规则形状 | |||
| 样品类型 | 塑胶/金属/薄膜/粉末/液体 | |||
| X射线管 | 靶材 | Mo | ||
| 管电压 | 5～50 kV | |||
| 管电流 | zui大1～1000 μA | |||
| 照射直径 | 2、5、8mm自动转换 | |||
| 探测器 | Si(PIN)半导体高分辨率探测器 | |||
| 滤光片 | 八种新型滤光片自动选择 | |||
| 样品定位 | 微动载物平台（选配） | |||
| 样品观察 | 30倍彩色CCD摄像机 | |||
| 微区分析 | X光聚焦微区分析系统（选配） | |||
| 软件 | 定量分析：α系数法 WINDOWS XP | |||
| 数据处理 | 主机 | PC机 | ||
| 内存 | 256 MB 以上 | |||
| 硬盘 | 40 GB 以上 | |||
| OS | Windows XP | |||
| 工作环境 | 温度 | 10～35 ℃ | ||
| 湿度 | 30～70%R H | |||
| 電源 | AC 220 V±10 %、50/60 Hz | |||
| 功率 | 1.1kW | |||
| 重量 | 40Kg | |||
| 外形尺寸 |
| 610(W)×750(D)×500(H)mm | ||
分析元素:
1.6.1 可以分析范围从Na～U任意元素,
铅（Pb/ ROHS指令要求的 铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、六价铬（Cr6+）、多溴联苯（PBB）
多溴联 和多溴联苯醚（PBDE）中的溴
直接分析出六价铬（Cr6+）含量.
1.6.3 测量时间：60-200秒(真实时间)
