品牌
经销商厂商性质
所在地
尺寸设计灵活、照射角度可根据检测需求随意调整、颜色可根据检测需求搭配，自由组合、可选配漫射板，使光线均匀扩散。
CKVision 光源
随着客户对机器视觉性能要求日趋严格，对系统光源要求也不断提高。创科推出的高性价比的系列光源产品，为客户提供了专业的机器视觉打光解决方案，更方便更效率。同时可根据客户要求定制专用尺寸和功能产品。
原材料优势：每一颗LED均经过严格的挑选以及质量测试
产品阵容强大：几十种系列上百种型号供客户选择
多项免费服务：免费借测、免费提供光源解决方案、免费提供测试实验打光，免费提供售前售后服务特殊定制，性价比高！
| 光源-概述 |
机器视觉作为当前的热门行业，是计算机视觉的延伸，集结了光学、机械、电子、计算机软硬件等各方面技术，旨在于将所需求的图像特征提取出来，以方便视觉系统的下一步动作,因此图像质量决定了整个机器视觉系统的成败。一张理想的效果图像，直接决定了软件算法的快速性及稳定性,而图像质量的高低又取决于合适的照明方式,因此光源是机器视觉系统中不可忽略的一个重要组件。针对不同的样品、不同的检测内容，光学成像方案也有所不同。
1.环境要求
工作温度：0°C~+70°C
储存温度：-10°C~+70°C
湿度：20~85%（不结冰）
2.光源颜色特征以及可选择的颜色
● 红色R：620~630nm
● 绿色G：525~530nm
● 蓝色B：465~470nm
● 紫外UL:365~395nm
● 红外IN：760~1000nm
○ 白色W：6600k色温
3.光源配件选择
光源控制器：模拟控制器、数字控制器、频闪控制器、恒流控制器漫射板可选
延长线：1m,2m,3m,5m,10m可选
4.光源寿命和型号说明
使用寿命：50000小时（亮度降低至出厂值60%）
颜色可选：X代表颜色，可选红R、绿G、蓝B、白色W、紫外UL（可将微小尘粒检测出来）、红外IN（进行颜色过滤）
如何选择光源
| 光源选型术语介绍 |
正向光
光源位于被测物的上方，光线照射在被测物表面，根据光源的发光角度可分为高角度光源、低角度光源，以及包含高、低角度的无影光源。
高角度光
光路描述： 光线与水平面角度>45“称为高角度光。
效果分析： 高角度照射，光线经被测物表面平整部分反射后进入镜头，图像效果表现为灰度值较高不平整部分反射光进入不了镜头，图像效果表现为灰度值较低。
主要应用： 定位、字符检测、轮廓检测、划伤检测、尺寸测量。
常用光源： 高角度环形光、条形光、面光、同轴光、点光等。
低角度光
光路描述: 光线与水平面角度<45°称为低角度光。
效果分析: 低角度照射，被测物表面平整部分的反射光无法过入镜头，图像效果表现为灰度值较低;不平整部分的反射光进入镜头，图像效果表现为灰度值较高。
主要应用: 定位、字符检测、轮廓检测、划伤检测、尺寸测量。
常用光源: 低角度环形光、条形光、线光等。
无影光
光路描述: 通过结构或漫射板改变光路，最终发光角度包含了高角度和低角度。
效果分析: 兼具了高角度光和低角度光的效果，使被测物得到了多角度的照射，表面纹理、皱褶被弱化，图像上整体均匀。
主要应用: 定位、尺寸测量、弧形产品表面检测。
常用光源: 圆顶光、环形无影光、方形无光、灯箱等。
同轴光
光路描述：反射光线与镜头平行，称为同轴光。
效果分析：光线经过平面反射后，与光轴平行地进入镜头。此时被测物相当于一面镜子，图像体现的是光源的信息，当“镜子”出现凹凸不平时，将格外地明显。
主要应用：划痕、压印、凹凸点检测、轮廓检测。
常用光源：同轴光、平行同轴光、面光、线光。
背光
光源位于被测物的下方，无遮档时，光线直接进入镜头，图像灰度值很高;由于被测物遮挡了光线，图像上灰度值很低，所以得到了被测物的轮廓信息。
漫射背光
光路描述：光源经过漫射板散射发光。
效果分析：提取轮廓时，对于有厚度、有弧度的产品，图像上边缘发虚，不够锐利;而对于扁平的产品，图像效果稳定，性价比高。
主要应用：定位、尺寸测量、有无检测、缺陷检测。
常用光源：面光。
平行背光
光路描述：通过平行结构使光源发出平行光。
效果分析：平行光能够精确得到不规则被测物的外轮廓，使诸如圆柱形产品，或有倒角、圆角的产品边缘成像清晰、锐利。一般配合远心镜头使用，精度很高。
主要应用：尺寸测量。
常用光源：平行面光、平行同轴光。
结构光
光路描述：通过特殊结构使光源发出清晰的线阵列或点阵列。
效果分析：光源投射到被测物上，缺陷会使得光斑阵列图案发生扭曲。
主要应用：平整度检测。
常用光源：结构光。
亮场
背景灰度值高，特征灰度值低。
暗场
背景灰度值低，特征灰度值高。
颜色选取技巧
根据被测物本身的颜色特征，使用对应的波长来提
高对比度。常用以下两种方法:
1、直接采用单色光源照射
2、使用白光加上单色带通滤镜
红外光
利用红外光的良好穿透性，可以过滤被测物表面的大分子干扰。
紫外光
利用荧光效应检测UV胶和隐形码，另一方面，与红
外光相反，弱穿透性可用于检测透明产品中的隐形特征。
偏光
使用偏光光源消除部分反光。
