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面议VEGA雷达式物位测量仪表
VEGA雷达式物位计PULS61/62/63/65/66系列
液体或固体介质,特别适用于高温、高压、真空、粉尘、
蒸汽及测量腐蚀性*或混合度高的介质
VEGAPULS 61
配有塑封天线系统的雷达传感器,用于连续物位测量(K-频段)
特别适用于测量腐蚀性液体,或用于开口容器或渠道。
优势
- 探头材料: PVDF 或 PP
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方
- 测量精度 ±5 mm
- ECHOFOX-信号分析处理,采用*的模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列
测量范围 达 20 米
过程连接 G1 1/2A螺纹, 龙门框或法兰
过程温度 -40 ... 80°C
过程压力 -1 … +3 bar (-100 … +300 kPa)
测量精度 ±5 mm
发射频率 K-频段
VEGAPULS 62
配有喇叭口天线、抛物线天线或?"- 导波管天线的雷达传感器,用
于连续物位测量(K-频段)
适用于存储容器或过程容器,可以在恶劣条件下测量几乎所有介质
。
优势
- 非接触是测量,不受过程温度、过程压力和过程气体的限制
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方
- 测量精度 ±3 mm
- ECHOFOX-信号分析处理,采用*的模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列
测量范围 达 35 米
过程连接 螺纹或法兰
过程温度 -40 ... 200°C
过程压力 -1 … +40 bar (-100 … +4000 kPa)
测量精度 ±3 mm
发射频率 K-频段
VEGAPULS 63
配有塑封天线系统的雷达传感器,用于连续物位测量 (K-频段)
特别适用于测量腐蚀性强的介质,或用于卫生无菌要求高的环境。
优势
- 用于探测的材料只有一种
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方
- 测量精度 ±3 mm
- ECHOFOX-信号分析处理,采用*的模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列
测量范围 达 20 米
过程连接 法兰或卫生连接
过程温度 -200…150°C
过程压力 -1 … +16 bar (-100 … +1600 kPa)
测量精度 ±3 mm
发射频率 K-频段
VEGAPULS 65
配有棒式天线系统的雷达传感器,用于连续物位测量 (C-频段)
特别适用于小的过程连接,在较为简单的过程条件下测量腐蚀性液
体。
优势
- 探头材料: PVDF 或 PTFE
- 可以测量至距离天线下缘100mm的地方
- 测量精度 ±10 mm
- ECHOFOX-信号分析处理,采用*的模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列
测量范围 达 35 米
过程连接 G1 1/2A螺纹或法兰
过程温度 -40 ... 150°C
过程压力 -1 … +16 bar (-100 … +1600 kPa)
测量精度 ±10 mm
发射频率 C-频段
VEGAPULS 66
配有喇叭口天线或2”导波管天线的雷达传感器,用于连续物位测量
(C-频段)
特别适用于在复杂的过程条件下进行测量。
优势
- 非接触是测量,不受过程温度、过程压力和过程气体的限制
- 可以测量至距离天线下缘100mm的地方
- 测量精度 ±10 mm
- ECHOFOX-信号分析处理,采用*的模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列
测量范围 达 35 米
过程连接 法兰
过程温度 -40 ... 400°C
过程压力 -1 … +160 bar (-100 … +16000 kPa)
测量精度 ±10 mm
发射频率 C-频段
VEGAPULS 67
配有塑封天线系统的雷达传感器,用于连续固料料位测量(K-频段)
特别适用于测量固体料位,料仓高度可达15米。
优势
- 非接触式测量,不受粉尘和风送入料的限制
- 测量精度 ±15 mm
- ECHOFOX-信号分析处理,采用*的模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列
测量范围 达 15 米
过程连接 龙门框或锁紧法兰
过程温度 -40 ... 80°C
过程压力 -1 … +2 bar (-100 … +200 kPa)
测量精度 ±15 mm
发射频率 K-频段
VEGAPULS 68
配有喇叭口天线或抛物线天线的雷达传感器,用于连续测量固体料
位 (K-频段)
特别适合测量固体料位,通过万向节可以调整天线方向,以适用于
不用形状的料仓,并对准料面。
优势
- 非接触式测量,不受粉尘和风送入料的限制
- 测量精度 ±15 mm
- ECHOFOX-信号分析处理,采用*的模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列
测量范围 达70 米
过程连接 G1 1/2A螺纹或法兰
过程温度 -40 ... 200°C
过程压力 -1 … +40 bar (-100 … +4000 kPa)
测量精度 ±15 mm
发射频率 K-频段
VEGA 振动式物位测量仪表
VEGA振动式固料式测量VIB61/63
VEGA振动式位式测量SWING51/61/63
用于对液体和固体进行位式检测。测量结果不受被测介质
特性的影响,也不受容器内工况条件的影响。
VEGASWING 51
用于测量液体的振动式物位开关
用于溢出保护或防止空转
优势
- 仪表启动无需调试
- 重复性非常高
- 开关点不受介质限制
- 牢固耐用,免维护
- 安装尺寸非常小
类型 标准型
材料 不锈钢316L
过程连接 螺纹,自G 3/4A
VEGASWING 61
用于测量液体的一体式振动式物位开关
用于溢出保护或防止空转。
优势
- 仪表启动无需调试
- 螺钉固定的压电驱动元件
- SIL 2认证
- 开关点不受介质特性的限制,重复性非常高
- 牢固耐用,免维护
- 属于plics 系列
类型 标准型
材料 不锈钢316L
哈氏合金Hasloy C4;瓷漆enamel;
ECTFE; PFA
过程连接 螺纹,自G 3/4A
VEGASWING 63
用于测量液体的一体式振动式物位开关
用于溢出保护或防止空转。
优势
- 仪表启动无需调试
- 螺钉固定的压电驱动元件
- SIL 2认证
- 开关点不受介质特性的限制,重复性非常高
- 牢固耐用,免维护
- 属于plics 系列
类型 达4米
材料 不锈钢316L
哈氏合金Hasloy C4;瓷漆enamel;
ECTFE; PFA
过程连接 螺纹,自G 3/4A
VEGAVIB 61
用于测量液体的一体式振动式物位开关
用于溢出保护或防止空转。
优势
- 优化设计的棒式结构可以介质粘附和*
- 仪表启动简便,无需调试
- SIL 2认证
- 开关点不受介质特性的限制
- 便于清洗
- 耐磨损,免维护
- 属于plics系列
类型 标准型
过程连接 螺纹自G1A
VEGAVIB 62
用于测量固体的一体式振动式物位开关,带悬挂缆
用于溢出保护或防止空转。
优势
- 优化设计的棒式结构可以介质粘附和*
- 仪表启动简便,无需调试
- SIL 2认证
- 开关点不受介质特性的限制
- 便于清洗
- 耐磨损,免维护
- 属于plics系列
类型 悬挂缆可达80 m
过程连接 螺纹自G1A
VEGAVIB 63
用于测量固体的一体式振动式物位开关,带延长管
用于溢出保护或防止空转。
优势
- 优化设计的棒式结构可以介质粘附和*
- 仪表启动简便,无需调试
- SIL 2认证
- 开关点不受介质特性的限制
- 便于清洗
- 耐磨损,免维护
- 属于plics系列
类型 延长管可达4米
过程连接 螺纹自G1A
VEGAWAVE 61
用于测量固体的一体式振动式物位开关
用于溢出保护或防止空转。
优势
- 仪表启动简便,无需调试
- SIL 2认证
- 开关点不受介质特性的限制
- 耐磨损,免维护
- 属于plics系列
类型 标准型
过程连接 G1 1/2A
VEGAWAVE 62
用于测量固体的一体式振动式物位开关,带悬挂缆
用于溢出保护或防止空转。
优势
- 仪表启动简便,无需调试
- SIL 2认证
- 开关点不受介质特性的限制
- 耐磨损,免维护
- 属于plics系列
类型 悬挂缆可达80米
过程连接 G1 1/2A
VEGAWAVE 63
用于测量固体的一体式振动式物位开关,带延长管
用于溢出保护或防止空转。
优势
- 仪表启动简便,无需调试
- SIL 2认证
- 开关点不受介质特性的限制
- 耐磨损,免维护
- 属于plics系列
类型 延长管可达4米
过程连接 G1 1/2A
VEGA压力变送器
VEGABAR 14
过程压力变送器,带CERTEC测量元件
适用于测量液体,气体和蒸汽的压力
优势
- 无油的陶瓷-电容测量元件
- 4 … 20 mA 两线制系统,供电电压12 … 30 V DC
- 特性曲线偏差0.5 %
- 测量范围 -1…60bar
测量元件 CERTEC耐过载能力高
测量范围 -1 … +60 bar (-100 … +6000 kPa)
特性曲线偏差 0.5 %
介质温度 -40 … +100 °C
标准信号 4 … 20 mA 两线制
VEGABAR 17
金属测量元件的压力变送器
适用于测量液体,气体和蒸汽的压力
优势
- 两线制, 4 … 20 mA 输出,供电电压10 … 30 V DC
- 特性曲线偏差0.5%
测量元件 压敏电阻/薄膜DMS,齐平
测量范围 -1 … +600 bar
特性曲线偏差 0.5%
介质温度 -40 … +125 °C (+150 °C,带冷却元件)
标准信号 4 … 20 mA 两线制
VEGABAR 51
带压力传导系统的压力变送器
适用于测量腐蚀性强或高温介质的压力。
优势
- 可以提供用于特殊应用的过程连接和材料
- 可以不带料调整,可以通过PLICSCOM进行位置校正
- 特性曲线偏差0.2%
测量元件 压力传导系统
测量范围 --1 … +250 bar
特性曲线偏差 0.2%
介质持续温度 bis 400 °C
标准信号 4 … 20 mA
VEGABAR 52
带CERTEC陶瓷测量元件的压力变送器
适用于测量气体,蒸汽和液体的压力
优势
- 耐过载能力和稳定性非常高
- 无油的陶瓷-电容测量元件
- 特性曲线偏差0.2%
- 可以通过PLICSCOM不带料调整
测量元件 CERTEC陶瓷
测量范围 -1 … +72 bar
特性曲线偏差 0.2 %
介质温度 -40 … +120 °C
标准信号 4 … 20 mA
VEGABAR 53
带金属测量元件的压力变送器
适用于测量气体,蒸汽和液体的压力
优势
- 过程连接符合EN837,或前表面齐平,符合ISO228
- 可以通过PLICSCOM不带料调整
- 特性曲线偏差0.2%
测量元件 压电/薄膜应变电阻片
测量范围 -1 … +600 bar
特性曲线偏差 0.2%
介质温度 可达105 °C
标准信号 4 … 20 mA
VEGABAR 54
带齐平的CERTEC陶瓷测量元件的压力变送器
用于造纸行业,水/废水处理行业的物位或压力测量
优势
- 无油的陶瓷-电容测量元件
- 耐腐蚀的CERTEC的陶瓷膜片
- 耐过载稳定性高
- 特性曲线偏差0.2%
- 可以通过PLICSCOM进行不带料调整
测量元件 CERTEC陶瓷
测量范围 -1 … +72 bar
特性曲线偏差 0.2 %
介质温度 可达120 °C
标准信号 4 … 20 mA
VEGABAR 61
带压力传导系统的压力变送器
适用于测量腐蚀性很强或温度高的介质的压力
优势
- 仪表内部空间达到zui小化,减少空气补偿带来的误差
- 接触介质的部分可以采用特殊材质或涂层
- 可以通过PLICSCOM进行位置校正
- 仪表属于plics系列
测量元件 压力传导系统
测量范围 -1 … +400bar
特性曲线偏差 0.1 %
介质温度 可达400°C
标准信号 4 … 20 mA/HART
VEGABAR 63
带金属膜片的压力变送器
用于食品行业,电厂和化工行业的物位和压力测量。
优势
- 耐过载,耐真空
- 传感器和电子部件可以分离安装(max. 180 m)
- 传感器外壳空间设计*化
- 特性曲线偏差0.1 %
测量元件 压电/薄膜应变电阻片
测量范围 -1 … +600 bar
特性曲线偏差 0.1 %
介质温度 可达150°C
标准信号 4 … 20 mA/HART
VEGABAR 64
带齐平的CERTEC陶瓷测量元件的压力变送器
用于造纸行业,食品加工行业,制药行业或水/废水处理行业的物位或压力测量
优势
- 特性曲线偏差0.075%
- 无油的陶瓷电容测量元件
- 通过采用CERTEC陶瓷,非常耐腐蚀
- 耐过载能力强
- 传感器和电子部件可以分离安装(max. 180 m)
测量元件 CERTEC陶瓷
测量范围 -1 … +72 bar
特性曲线偏差 0.075 %
介质温度 可达150°C
标准信号 4 … 20 mA/HART
VEGABAR 65
带METEC-金属测量元件的压力变送器
用于化工行业,食品加工行业和制药行业的物位和压力测量
优势
- 特性曲线偏差0.075%
- 耐真空
- 介质温度可达200°C
- 接触介质的材料为不锈钢316L和哈氏合金Hasloy C276,或镀金
- 传感器和电子部件可以分离安装(max. 180 m)
测量元件 METEC压力变送器,带齐平的测量元件
测量范围 -1 … +25 bar
特性曲线偏差 0.075
介质温度 up to 200°C
标准信号 4 … 20 mA/HART
VEGABAR 66
带齐平的CERTEC测量元件的投入式压力变送器
用于水/废水,深井,水池或容器的物位或液位测量
优势
- 特性曲线偏差0.1%
- 无油的陶瓷-电容测量元件
- *稳定性0.1%/2年
- 由于具备自清洁功能,极少粘附介质
- 浇注密封的电缆组件,内有用于空气补偿的毛细管
测量元件 CERTEC陶瓷
测量范围 0 … 200 mH2O
特性曲线偏差 0.1%
介质温度 可达100°C
标准信号 4 … 20 mA/HART
VEGABAR 67
带METEC-金属测量元件的投入式压力变送器
适用于测量容器内的液位或物位
优势
- 特性曲线偏差0.1%
- 介质温度可达100°C
- 接触介质的材料为不锈钢316L, 哈氏合金Hasloy C276和/或FEP
测量元件 METEC
测量范围 0 … 200 mH2O
特性曲线偏差 0.1%
介质温度 可达100°C
标准信号 4 … 20 mA/HART
VEGABAR 74
带齐平的CERTEC陶瓷测量元件的压力变送器
用于造纸行业,食品加工行业,制药行业以及水/废水处理行业的物位测量和压力测量
优势
- 特性曲线偏差0.075 %
- 无油的陶瓷-电容测量元件
- 通过采用CERTEC陶瓷,非常耐腐蚀
- 保护方式IP68, IP69K
- 两线制系统4...20mA/HART
测量元件 CERTEC 陶瓷
测量范围 -1 … +72 bar
特性曲线偏差 0.075 %
介质温度 -40 … +100 °C
标准信号 4 … 20 mA/HART
VEGABAR 75
带METEC测量元件的压力变送器
用于化工行业,食品加工行业和制药行业的物位测量和压力测量
优势
- 特性曲线偏差0.1%
- 耐真空
- 接触介质部分采用不锈钢316L和哈氏合金Hasloy C276
- 保护方式IP68, IP69K
- 两线制系统4...20mA/HART
测量元件 METEC
测量范围 -1 … +25 bar
特性曲线偏差 0.075 %
介质温度 -12 … +100 °C (200 °C带冷却元件)
标准信号 4 … 20 mA/HART
VEGAWELL 52
带CERTEC陶瓷测量元件的投入式压力变送器
适用于测量深井,水或废水的液位或造船工业
优势
- 无油的陶瓷-电容测量元件
- 两线制系统4...20mA
- 一体式的过电压保护
测量元件 CERTEC陶瓷
测量范围 0 … 400 mH2O
特性曲线偏差 自0.1 %
介质温度 -40 … +80 °C
标准信号 4 … 20 mA