降落值测定仪分析面包降落值需求
  降落值是反映面粉中α-*活性大小的指标，也是检测小麦在收获、贮藏、运输过程中是否发芽的一项间接指标，降落值的测定可以通过使用降落数值测定仪进行快速的测定分析。降落值测定仪是测定谷物中*活性的仪器，可准确判断谷物的发芽损伤程度，适用于谷物、尤其是小麦粉的测定，是粮食贮藏、面粉加工、食品加工等领域中进行质量检测的*仪器。面包的主原料是通过面粉进行多发那个面加工制作而成的，在面粉选购中，降落值也是其中的一个重要的因素。
降落值的差异都直接影响到面包的制作，直接使用降落值测定仪进行测定以及分析，具体情况如下：
      α-*活性高（在6-150）时，面包心易黏湿，不适合用于制作面包，同时籽粒易发芽，在面包制作中禁选用此类面粉；
      α-*活性正常（在220-280）时，面包质地优良，小麦籽粒发芽正常；
      α-*活性低（在6-150）时，制作出来的面包体积过小，面包心干硬，且籽粒休眠期长，不易发芽，不论在面包制作以及作为种子都不适用。
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