四探针电阻率测试仪器

TH02-FT-341四探针电阻率测试仪器

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具体成交价以合同协议为准
2023-09-19 11:12:17
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产品简介

四探针电阻率测试仪器库号:M386778
覆盖膜;导电高子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

详细介绍

四探针电阻率测试仪器库号:M386778四探针电阻率测试仪器库号:M386778

覆盖膜;导电高子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等,提供中文或英文两种语言操作界面选择.

二.描述:

采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:PC软件进行数据管理和处理.

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计参考国单晶硅物理测试方法及 A..T.M 准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.


1.方块电阻 10^-5~2×10^5Ω/□

2.电阻率 10^-6~2×10^6Ω-cm

3.测试电流 0.1μA.μA.0μA,100µA,1mA,10mA,100mA

4.电流精度 ±0.1%

5.电阻精度 ≤0.3%

6.显示读数 屏液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率

7.测试方式 双电测量

8.电源 输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W

9.误差 ≤3%(准样片结果)

10.选购功能 选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台;5.准电阻.

11.测试探头 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针

12.准电阻(选购) 规格:1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ




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