MW4H02A干涉测量实验系统-武汉麦思威科技有限公司手机版

产品简介

一、产品概述该仪器主要利用导轨、支架及光学组件、如双棱镜分成两束光，将两束光相遇产生的明暗相间的干涉条纹用读数显微镜测出条纹间距，再用二次成像绘测出一大、一小两个缝像（即虚光源S1、S2）之间的距离代入公式即可

一、产品概述

该仪器主要利用导轨、支架及光学组件、如双棱镜分成两束光，将两束光相遇产生的明暗相间的干涉条纹用读数显微镜测出条纹间距，再用二次成像绘测出一大、一小两个缝像（即虚光源S1、S2）之间的距离代入公式即可。

适用课程：《物理光学》

二、参考配置

导轨、二维调整架、干板架、白屏、单面可调狭缝、低压钠灯、双棱镜、牛顿环、透镜、读数显微镜、双缝