PhaseView光束质量分析仪BeamWave

PhaseView光束质量分析仪BeamWave

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具体成交价以合同协议为准
2024-06-25 11:54:49
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上海旭为光电科技有限公司

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产品简介

BeamWave系列光束质量分析仪具有高分辨率、测量速度快、测量功能更全面,无需繁琐的导轨等优点,仅需一台Beamwave光束质量分析仪即可测量所有的激光光束参数。包括光束发散角,光斑位置大小,三维能量分布,波前能量、相位分布,波前曲率半径等。同时PhaseView光束质量分析仪还可以检测波前传感曲线,设备的通用性强,连续和脉冲光束都能测量,十分适合客户用于各类激光参数研究。一次测量即可获得M2和......

详细介绍

PhaseView光束质量分析仪BeamWave型号参数

型号BeamWave500BeamWave1000BeamWave1500BeamWave FIR
输入光束直径(1/e2)3.2mm4.8mm(双CCD)6.4mm10.88 x 8.16 mm
光束强度测量模式连续或脉冲,XYZ三轴测量
波长范围350 ‐ 1100 nm2-16 µ m
有效CCD口径3.2mm4.8mm6.4mm
CCD像元大小6.45 x 6.45 μm17 µ m
M2测量功能连续和脉冲激光
M2范围1-50
M2精度±5%±5%±5%
M2重复性2%
波前测量功能
波前测量点数500×5001392×10401392 X1040640 x 480
波前灵敏度,rms0.005λ0.005λ3nm, >0.02λ
波前精度,rms0.01λ0.01λ6nm, >0.01λ0.01 λ
波前动态范围1500λ1500λ1800λ1500 λ
测量时间实时
重量0.35 Kg2.5 Kg1.15 Kg0.272 Kg
尺寸41×55×8087×161×84 mm114x72x172 mm61×67 ×66 mm
光学接口C-Mount
计算机接口USB 2.0,Windows 7,XP,Vista
标配软件GetLaseGetLase
GeTWave
GetLase
GetWave
GetLase
GetWave
供电USB供电,无需电源
可选项:3ND Filter, Beam Splitter Wedges, IR Converter,光束缩束和扩束, Beam Reducer/Expander2X,3X,4X
Software Development Kit软件,GetWave软件波长从紫外到红外的特定探测器(其他波长)

法国PhaseView公司BeamWave光束质量分析仪以别具一格的光束质量M2测试技术而闻名,具有高分辨率、

测量速度快、测量功能全面,无需繁琐的导轨等优点。它的通用性强,连续和脉冲光束都能测量且脉冲测量自动触发,功能全面,十分适合用于激光分析、眼科仪器、科研级光学精密仪器的表面和波前测量等应用。

普通的光束质量分析仪通常使用Shack-Hartmann探测器对波前能量进行测量取样,其具有测量速度慢且分辨率低,测量M2时移动繁琐等缺点。而法国BeamWave系列光束质量分析仪很好的克服了这些缺点,其采用了PhaseView公司的波前传感技术,CCD探测器和波前探测器只需一次成像就能瞬间采样,得到光束质量(M2)的数据,整个过程无需移动任何导轨部件,且测量速度快、分辨率高。BeamWave革命性的舍去了传统光束质量分析仪的复杂系统,没有笨重的移动部件和多余的附件 ,单一设备即可实现分析测量M2因子、光束形貌参数、光斑传播参数等所有的激光束参数。

BeamWave系列光束质量分析仪采用的波前传感技术,它的原理是在CCD探测过程中,入射激光光斑会被分成两束激光,一快一慢分别先后的到达两个CCD探测器阵面上,得到两个光束图像。通过对比分析这两个图像的波前能量强度分布和波前相位分布可以分析的出该光束的M2值、发散角、光束位置和其它传播参数。

PhaseView光束质量分析仪BeamWaveBeamWave优点:

  • 连续和脉冲光束都能测量,脉冲测量自动触发
  • 只需一台BeamWave即可测量全部的光束参数 ,且价格相对优惠, 结构简单无需维护成本
  • 高分辨率光强和波前同步测量
  • 不需要复杂的移动导轨部件,瞬时单点M2测量,
  • 1. 光束形貌参数:光束发散角,三维能量分布,光斑位置,腰斑大小,
  • 2. 光束传播参数:波前曲率半径,波前能量、相位分布,锐利长度,腰斑大小和位置,等等
  • 3. M2因子

BeamWave 传感器在一体化设备中同时提供强度和波前测量。这些传感器不是使用微透镜阵列进行波前采样,而是基于 数字波前技术 ® ,因此波前测量点的数量仅受相机分辨率的限制,可提供高空间分辨率波前,

这些传感器通常用于同步激光束分析和光束传播分析或高分辨率波前测量,以进行光学元件表征。

BeamWave传感器附带GetLase® GUI软件,用于即时诊断所有激光束参数,GetWave ® GUI软件带有全面的波前分析工具,包括Zernike,MTF和PSF。

成功用于以下应用

  • 实时激光束监控
  • 即时激光束诊断
  • 激光二极管、光纤激光器、半导体激光器
  • 固态激光器、电信激光器组件
  • 光学表征:微透镜和眼科镜片
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