常温半导体测试气敏测试大气探针台-郑州科探仪器设备有限公司手机版

产品简介

常温半导体测试气敏测试大气探针台是一种用于半导体器件电性能测试的重要设备，通常由精密的机械结构、高性能的探针针头和电性能测试仪器组成。探针台可以对半导体芯片、集成电路和其他微电子器件进行直接的电性能测试，从而为研究和生产提供有价值的信息。探针台主要用于晶圆加工之后、封装工艺之前的CP测试环节，负责晶圆的输送与定位，确保从晶圆表面向精密仪器输送更稳定的信号，实现更加精确的数据测试测量。

详细介绍

常温半导体测试气敏测试大气探针台

常温半导体测试气敏测试大气探针台技术参数；

屏蔽盒
材质	碳钢喷塑
盒体尺寸	180mmX120mmX80mm
盒体尺寸	约2KG
盒体上视窗尺寸	Φ42mm
样品台
样品台材质	铝合金（可扩展真空吸附）（可扩展与大地绝缘）
样品台尺寸	φ30mm
探针
电信号接头	配线转接 BNC接头 BNC三同轴接头 SMA 接头香蕉插头选其一线长1.2米
电学性能	绝缘电阻 ≥5000MΩ 介质耐压 ≤500V 电流噪声 ≤10pA
探针数量	4探针（可扩展6探针）
探针材质	钨合金探针（其他材质可选）
探针尖	50μm 或10μm（其他规格可选）
手动探针移动平台
移动方式	全手动点针
X轴移动行程	15mm ±7.5mm（需手动推动滑台）
X轴控制精度	≥500μm
R轴移动行程	120° ±60°（需手动旋转探针杆）
R轴控制精度	≥500μm
Z轴移动行程	5mm
Z轴控制精度	≤50μm（需手动螺纹调节探针杆）

目前公司已研发生产产品十多个系列几十款产品，产品囊括实验电炉 CVD供气系统等离子清洗机小型离子溅射仪小型蒸镀仪石英管真空封口半导体等。主要适用于科研院校及工矿企业在新材料、新能源等领域物理特性及化学特性的研究，广销于各大院校，及材料研究所。

公司与国内高校，科研院所有多层次的合作关系，建有开放实验室，相关领域的教授、工程师、博士参与公司产品的研究和开发。我们秉承公司的发展理念，依靠严谨的技术研发能力，科学合理的生产工艺，精益求精的制造要求，全心全意做好产品质量和服务工作，科探仪器时刻怀着一颗真诚的心期待与您的合作。