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主要功能:
● 具有两种测量方式:连续测量和单次测量方式;
● 具有两种工作方式:直接和成组方式;
● 具有自动统计功能:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);
● 可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;
● 存储功能:可存4 个校正工件可保存。分2类工件,每类26组,每组15个,共1560个测值;
● 删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存储区内的数据,以便进行新的测量;
● 设置限界:对限界外的测量值能自动报警;
● 具有电源欠压指示功能,操作过程有蜂鸣声提示,自动关机方式。
技术参数:
项目 | Leeb 260 | |
测头类型 | F1不可拔插 | |
工作原理 | 磁感应 | |
测量范围 | 0~1250μm | |
低限分辨率 | 0.1μm | |
示值误差 | 一点校准 | ±(3%H+1) |
二点校准 | ±[(1~3%)H+1] | |
测试条件 | 最小曲率半径mm | 凸1.5mm、凹9mm |
最小面积直径mm | Φ7mm | |
基本临界厚度mm | 0.5mm | |
工作环境 | 温度 | 0~40℃ |
湿度 | 20%~90% | |
电源 | 1.5V两节 | |
外形尺寸 | 163×78×33mm(主机) | |
重量 | 200g | |
外壳材质 | 塑料外壳 | |
标准配置 | 主机、标准试片、铁基体、碱性电池、仪器箱 | |
选配 | 标准试片、基体、皮套 |