JIMA RT RC-05B分辨率测试卡
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一、JIMA RT RC-05B详细介绍:
JIMA RT RC-05B是一款采用最1新半导体光刻技术制作的微型分辨率测试卡。它用于校准和监控系统分辨率,确保微焦点或纳米焦点X射线检测系统获得高质量的结果。
JIMA RT RC-05B支持3微米至50微米(3 µ m至50 µ m)的分辨率。这对应于6微米和100微米(6 µ m和100 µ m)之间的焦斑尺寸。
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