分辨率测试卡
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JIMA RT RC-04分辨率测试卡

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1000 1

具体成交价以合同协议为准
2023-08-04 14:15:49
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产品简介

JIMA(日本检测仪器制造商协会),致力于关注各种检测仪器,其中包括无损检测仪器,JIMA分辨率测试卡,用于测量X射线系统的分辨率,以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。

详细介绍

JIMA(日本检测仪器制造商协会),致力于关注各种检测仪器,其中包括无损检测仪器,JIMA分辨率测试卡,用于测量X射线系统的分辨率,以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。




JIMA RT RC-04分辨率测试卡


测试卡封装在一个防护盒中



盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×5mm



芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.015mm



图案布局:T型



线/空间尺寸:32种规格图案,



0.1μm,0.15μm,0.2μm,0.25μm,0.3μm,0.35μm,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm, 0.8μm,



0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0,5.0μm,6.0μm,7.0μm,8.0μm,9.0μm,10.0μm


JIMA RT RC-05 X射线分辨率测试卡


测试卡封装在一个防护盒中



盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×3mm



芯片尺寸(W×D×T):8×8×0.2mm



图案布局:T型 (3-10μm)         I 型 (15-50μm)



线/空间尺寸:16种规格图案,



3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm (T型)



15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)


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