WHOI APD测试系统 系统概述 WHOI APD测试系统是我公司自主研发而成，搭载我司研发的手动耦光平台以及APD芯片测试板，实现了雪崩光电二极管芯片的击穿电压、暗电流、正向电压、响应度、倍增因子、量子效率以及无光、有光状态下对APD芯片进行I-V曲线的自动测试和合格判定。
该测试系统准确性高、测试速度快、软件操作方便，显示结果直观，可实现测试数据的自动存储，方便进行数据分析，以及随时查看APD的I-V曲线。
系统特点 1. 测试多样化：设计研发多种测试板，可对多种类型APD芯片进行测试，例如：
l 大光敏面InGaAs APD，3pin TO46器件
l 盖革 InGaAs APD，3pin TO46器件以及带尾纤器件
l 10G InGaAs APD+TIA，5pin TO46器件以及带尾纤器件，差分输出
l 盖革 InGaAs APD + TEC，6pin TO8器件以及带尾纤器件
2. 测试速度快：0~35V，0.1V步进，有光和无光I-V曲线测试用时30S；
3. 精准测试：在TCE精准控温下进行APD芯片I-V快速测试；
4. 自动存储：I-V曲线测试时，实时存储测试数据；
5. 双I-V曲线：绘制有光和无光电流曲线，进行双曲线显示；
6. 报表保存：多次测试数据以Excel报表形式保存，便于后期数据分析；
7. 历史查询：可以查找已完成测试芯片的历史I-V曲线。
系统构成 WHOI APD测试系统结构框图下图1所示：
图1 WHOI-APD测试系统结构框图
表1 系统组成单元
| 序号 | 系统单元 | 附件 |
| 1 | WHOI-GY-001 光源 | |
| 2 | WHOI-GGL-002光功率计 | WHOI-GGL-W01 RS232通讯线 |
| 3 | WHOI-GS-003 光衰减器 | WHOI-GS-W01 RS232通讯线 |
| 4 | WHOI-GF-004 光分路器 | WHOI-GF-W01光纤跳线 |
| 5 | WHOI-YB-005 V-I源表 | WHOI-YB-D01GPIB数据采集卡+ WHOI-YB-W02三轴同轴线缆 |
| 6 | WHOI-DY-006 VCC电源 | WHOI-DY-W01 USB通讯线+
WHOI-DY-W02电信号线 |
| 7 | WHOI-TEC-007 温度控制器 | WHOI-TEC-W01 DB25线缆+
WHOI-TEC-W02 数据采集线 |
| 8 | WHOI-OGT-008 耦光平台 | |
| 9 | WHOI-CSB-009 APD测试板 | WHOI-3PIN+WHOI-5PIN+WHOI-6PIN |
| 10 | WHOI-PBZ-010 遮光屏蔽罩 | WHOI-PBZ-W01电信号线 |
| 11 | WHOI-ZJ-011 主机 | （键盘、显示器、鼠标） |
软件界面 图2 单点测试界面
图3 I-V测试界面
图4 绘制曲线界面
定制方案 我们可以根据您的需求，为您定制所需的APD芯片测试板以及不同测试方案；针对性的优化测试系统，也可实现全自动化测试。
