光学后向散射反射仪(Optical Backscatter Reflectometer) Luna OBR 4600是Luna屡获殊荣的光学后向反射仪TM产品线的一部分。OBR 4600专为组件和短期网络测试和故障排除而设计，可实现具有反向散射水平灵敏度的超高分辨率反射计。OBR 4600具有低至10微米的采样分辨率、零死区、极低的噪声基底，以及扩展范围和分布式温度和应变传感的选项，提供了行业优秀的反射计技术，使您能够所未有地“看到”您的组件和系统内部。

•“Zero Dead Zone零死区”反射计

•以10μm采样分辨率测量30 m

•80 dB动态范围

•后向散射级灵敏度（-130 dB）

•高速扫描（1 m段，z高3 Hz）

•增程提供2公里无死区的续航里程

•测量IL、RL、分布损耗、距离、极化状态、相位导数和群延迟

•高分辨率C和L波段（OBR 4600）或O波段（OBR-4613）能力

方便地定位及诊断光纤的弯折、熔接、连接头及断裂等各类故障

定位各点的插损,对小型化组件所未有的可见性

轻松定位、识别和排除宏观弯曲、拼接、连接器和断裂,深入期间内部，评估每个接口的RL和IL,将IL点定位在网络或组件中的每个点上——消除削减(assembly – eliminate cutbacks)

7秒内以10微米的分辨率完成30米的测量

以3Hz的频率连续测量1米的范围

可测试并定位2千米的光纤网络故障

光纤组件的自动检验

器件或模块内温度及应力的监测

光纤或无源器件的故障定位

光纤温度传感、光纤应力传感

型号对比

点扫描模式

点扫描模式允许扫描被测设备的任何1米或2米区域，从而缩短测量时间和更小的数据文件。下表中的速率用于以100nm/s的激光调谐速度进行的测量。

示例应用

硅光子器件构建在硅光子平台上，代表了一种高水平的功能，可小型化为的封装密度。OBR 4600的高空间分辨率和高灵敏度提供了以非常高的细节水平查看设备内部的能力。

例如，UCSB的光电子研究小组在硅平台上制造了一条一米长的螺旋延迟线。OBR 4600用于测量光子集成电路（PIC）内部的分布损耗，该电路的尺寸仅为1cm2。

波导的水平部分在螺旋上的扫描如左下图所示。波导交叉点间隔仅50微米，清晰可见。

1米的螺旋波导显示在扫描波导中，与下面的螺旋环交叉。右图清楚地显示了一米螺旋上的分布损耗，包括水平波导交叉处的散射。

OBR 4600背光反射计参数表

所有参数适用于单模光纤。
对于多模光纤，参数仅为名义值
1. 在整个长度内。
2. 名义范围。
3. 精度由内置的、NIST可追溯的HCN气室来保证。
4. 对于2千米的选项，回损动态范围是60dB。
5. 这个插损动态范围是在标准的单模光纤散射水平（~-100dB/mm）低于背景噪声（~-118dB/mm）前的单程损耗。

分布式传感

分布式传感作为一种选择，允许您使用OBR 4600通过分析标准现成光纤固有的瑞利散射来检测和监测连续应变和温度，用户指出的空间分辨率低至0.32毫米。或者，Luna ODiSI平台针对传感应用进行了优化，并提供易于使用的，可重复和稳健的传感器测量解决方案。具有分布式传感选项的OBR 4600在需要额外灵活性和定制的专业或研究应用中te别有用。

型号说明