光学后向散射反射仪TM OBR 5T-50是一款快速、简单易用、低成本的精密反射仪，可测量无源光学组件和模块（包括PLC、光缆、连接器、开关、耦合器等）的插入损耗（IL）和回波损耗（RL）分布。该仪器利用扫频干涉测量法测量作为距离函数的后向散射光，灵敏度为-125 dB，采样分辨率为20微米。OBR 5T-50通过使用单个仪器测量RL、IL和长度，降低了成本和复杂性，同时提高了测试吞吐量。

业界优秀的测量速度、范围、精度和分辨率组合

•12 Hz采集速率

•8.5米测量范围

•0.0034%的飞行时间延迟精度

•20微米采样分辨率

包括简化的用户界面和软件开发工具包（SDK）

•通过定制界面优化吞吐量

自动定位反射事件并生成RL、IL和事件位置

•故障定位-自动RL、IL和长度测量

•亚皮秒分辨率的倾斜测量

•精密光缆和连接器

•PLC和波导设备

•耦合器、开关和分束器

•实时光学对准

型号对比

OBR 5T-50参数表

1.SMF-28中沿长度轴的两个采样点之间的距离。

2.通过NIST内部可追溯的HCN气室保证准确度。

3.*强反射大于-30 dB和本底噪声之间的范围。

4.Max. 长度的一半处的噪声基底回波损耗。

5.以1cm的积分宽度测量。

6.反向散射到达噪声基底之前的双向损耗和IL测量不再可能。

7.以10cm的集成宽度测量。

基于MEMS的光开关的回波损耗与长度测量。前两个反射相距5.0毫米。该测量是以20微米的采样分辨率记录的。

业界优秀的测量速度、范围、精度和分辨率组合