KTK-可靠性测试-快速温变试验箱-合肥巨阙电子有限公司手机版

详细介绍

可靠性测试-快速温变试验箱概要：

适用于半导体、仪器、仪表、电工、电子产品，为电子零组件，成品、半成品、化学、材料等个中环境测试整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下的适应性试验及应力筛选试验以便对试品在拟定条件下的性能、行为作出分析及评价（快速变化）

可靠性测试-快速温变试验箱特点：

1.内箱材料采用SUS304不锈钢;外箱材料采用双面镀锌钢板表面静电喷塑处理。外观采用简约实用设计风格，具有耐用性和抗磨损性等特点

2.*的冷平衡控制技术，实现冷量自动调节，节能环保

3.风道设计，提供大风量循环的同时保证温度均匀度

4.跨平台控制系统可实现远程监控、数据上抛,异常推送，手机程序监管及兼容MES数据交互

5.具有程式修正，清除，预约启动，停电记忆等功能

6.升温，降温，加湿，除湿之所有元件，由微电脑自动控制，系统个别独立

7.对应客户所需求的快速温度变化试验要求能进行特殊设计。同时合理的结构设计，优化的冷冻设计，完善的内部控制核心，满足5℃/分钟，10℃/分钟，15℃/分钟的升降温要求，能够做到25℃/分钟

8.设备采用模块化微控技术，具有自我诊断功能，智能故障解除提示及断电讯息保护功能

规格：

型号	KTK-408	KTK-4800	KTK-1600	KTK-2000
内部尺寸（WxHxD) cm	80x85x60	100x100x60	100x125x95	150x150x100
容积/L	408	800	1600	2000
温度范围	-70℃～+100℃（150℃） ( A:0℃ B:-20℃ C:-40℃ D:-60℃ E:-70℃)
湿度范围 (仅湿度型）	10%～98%RH
温湿度控制稳定度	±0.3℃;±2.5%RH
温度分布偏差	1.0℃(-40～100℃) /+1.5℃(-40.1～-70℃:100.1～150℃) ±3% R.H(>75%)/±5% RH(≤75%)
升温速度	3～25(℃/min)
降温速度	3～25(℃/min)
可选设备	干风吹扫 (Dry Air Purge);时序插座 (Power Supply Socket) 大视窗 (Large Viewing Window); 玻璃中门(Glass Door); 液氮 (Liquid Nitrogen)
满足的标准及试验方法	GB11158、GB10589、GB10592、GB/T 24231 GB/T 2423.2、GB/T 2423.3GB/T 2423.4、GB/T10586、GJB150.3、GJB1504GJB150.9、IEC60068-2