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产品介绍
DTR短焦热像仪测试系统是传统DT热像仪测试系统的一个特殊版本。这两个系统都是将一系列的标准靶标投影出去，被测热像仪接收成像。DT系统使用了较长焦距和大孔径的离轴反射式光管，而DTR系统则使用较短焦距和小孔径的透射式光管。因此，相同的红外靶标由DTR系统投射后，被测热像仪接收的图像比由DT系统透射出的要更大。从数学上讲，DTR系统可以投射出比典型DT系统空间频率要低几倍的4杆靶图像。
DTR测试系统在测试过程中，被测热像仪的奈奎斯特空间频率(等于1/2 IFOV)可低至0.02lp/mrad (热像仪的探测器像元尺寸17um，物镜焦距0.68mm)，可满足市场上大多数大视场热像仪的测量需求。另外DTR测试系统提供2个不同焦距和视场的光管供选择，可根据被测热像仪的分辨率和视场来选择适用的光管。
通常DTR测试系统提供测试长波热像仪的配置，可选配测量中波热像仪。
产品参数
表 1. DTR 测试系统使用的三位编码定义
1 | 2 | 3 | |
编码 | Spectral band | 图像采集卡 | 测量性能 |
A | LWIR 8-14 µm | 无图像采集卡 | 基础: MRTD |
B | MWIR 3-5 µm | 模拟图像采集卡 (PAL/NTSC) | 典型: MRTD, MTF, SiTF, NETD, FPN, 非均匀性, FOV |
C | LWIR 和MWIR | 外加USB 2.0/3.0采集卡 | 高级:以上外加响应函数, 3D噪声, NPSD, 坏点, PVF, SRF, ATF, SNR, MDTD, Auto-MRTD |
D | 外加采集卡支持格式： CL, GigE, LVDS, HD-SDI, HDMI, SPI, UART |
DTR-ABB 型号代表的DTR 测试系统配置如下：
1. 光谱: LWIR 8-14 um
2. 配置图像采集卡: 模拟视频 (PAL/NTSC)
3. 测量性能：MRTD, MTF, SiTF, NETD, FPN, 非均匀性, FOV
RCOL430 光管 | |
型号 | RCOL 430L 或 RCOL430M |
光管类型 | 折射式 |
口径 | 40mm |
焦距 | 300mm |
光谱范围 | 8-14 µm(RCOL430L) 或3-5 µm (RCOL430M) |
空间分辨率 | > 3 lp/mrad (轴上) |
透过率 | > 93% |
视场 | 8º |
RCOL210 光管 | |
型号 | RCOL 210L or RCOL210M |
光管类型 | 折射式 |
口径 | 20mm |
焦距 | 100mm |
光谱范围 | 8-14 µm (RCOL210L) or 3-5 µm (RCOL210M) |
空间分辨率 | > 3 lp/mrad (on axis) |
透过率 | > 93% |
视场 | 16º |
TCB-2D 黑体 | |
口径 | 50 x 50 mm |
温度调节范围 | 0ºC 到+100ºC 环境温度20ºC时 |
温差调节范围 | -20ºC 到+80ºC |
发射率 | 0.98 ± 0.005 |
温度均匀性 | <0.01ºC or 0.4% |T-Tamb| |
设置分辨率 | 1 mK |
调节稳定性 | ±2 mK @ ΔT=10ºC |
总体温度不确定性[ºC] | 0.001 × |T-Tamb| + 0.01 [ºC] |
设置时间 | < 30s |
控制接口 | USB 2.0 |
供电 | 115-230VAC 50/60Hz |
工作/储藏温度 | +5ºC ÷ +45ºC/ -10ºC ÷ +60ºC |
YWAS45 旋转平台 | |
旋转范围 | 90º |
MRW-8 靶轮 | |
靶位 | 8 |
控制方式 | 电动控制 |
靶轮发射率 | 0.97 ± 0.01 |
靶标 | |
直径 | 54 mm (靶孔) |
发射率 | 0.97 ± 0.01 |
靶标类型 | 4杆靶，刀口靶，十字靶（根据客户需求配置） |
计算系统 | |
计算机 | 主流配置计算机 |
图像采集卡 | 动态 8-bit, SNR>256，输入视频格式 - PAL, NTSC |
图像采集卡No.2 | 可选接口: CL, GigE, LVDS, HD-SDI, HDMI, SPI, UART TCB |
控制程序 | 控制黑体和靶轮 |
SUB-T 计算程序 | MRTD测量 |
TAS 计算程序 | 支持测量MTF, SiTF, NETD, FPN, 非均匀性，畸变, FOV, 响应函数, 3D噪声, NPSD, 坏点, PVF, SRF, ATF, SNR, MDTD, Auto-MRTD |
