分立器件iv+cv测试仪
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分立器件iv+cv测试仪

S300B分立器件iv+cv测试仪

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具体成交价以合同协议为准
2023-09-21 15:45:01
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武汉普赛斯仪表有限公司

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产品简介

S型分立器件iv+cv测试仪在一个半机架尺寸的仪器中结合了电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载等功能,这些测试功能,令S型触摸屏数字源表具有I-V特性测试系统、曲线追踪仪和半导体分析仪的各种测试能力,而成本更低廉。

详细介绍

武汉普赛斯是国内醉早生产源表的厂家,产品系列丰富:产品覆盖不同的电压、电流范围,产已经过了市场的考验、市面有近500台源表在使用,SXXB系列高精度数字源表,相比于传统S系列源表,直流更大、精度更高、准确度提升至±0.03%,直流电流升级至3A,可为半导体行业提供更加晶准、稳定的测试方案


分立器件iv+cv测试仪优势

  • 性能强大-作为电压源和或电流源,并同步测量电流和或电压,支持四象限工作。可以限定电压或电流输出大小,预防器件损坏。覆盖3pA-3A的电流范围100μV-300V的电压范围,全量程测量精度0.03%。

  • 灵活多样-支持两线制和四线制测量,更准确的低内阻量测;集成线性阶梯扫描、对数阶梯扫描、自定义扫描等模式;专业l-V特性及半导体参数测试软件。

  • 易学实用-简化了如I-V和l-t/V-t曲线等各种应用的测量准备工作。电容式触摸屏图形用户界面(GUI)     ,提供图形化和数字化两种测量结果显示模式,便于使用和查看。


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多合一高精密SMU,J致简化测量

统的半导体I-V特性测量方案通常是复杂且成本昂贵的,需要多种仪器配合完成测试,对不同仪器进行编程、同步、连接、测量和分析,既复杂又耗时,还需占用大量测试台空间。

S系列数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表,还可用作精密电子负载,其高性能架构允许其使用作为波形发生器、以及自动电流-电压(I-V)表征系统。极大缩短测试系统的开发、建立和维护的时间,同时节省测试架或测试台的宝贵“空间”,降低购买测试系统的整体成本。




四象限工作,可以作为源或负载

电源象限是指以电源输出电压为X轴、输出电流为Y轴形成的象限图。D一、三象限即电压电流同向,源表对其它设备供电,称为源模式;第二、四象限即电压电流反向,其它设备对源表放电,源表被动吸收流入的电流,且可为电流提供返回路径,称为阱模式。



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与传统矩阵电源不同,S系列源表在同等功率下,客户可根据实际需求,选择大电压小电流或小电压大电流输出。选择的量程不同,S系列源表的源/阱极限也有区别。

源限度-电压源:

士10V  (≤3A量程),土30V (≤1A量程),士300V (≤100mA量程)

源限度-电流源:

土3.15安(≤10V量程),土1.05安(≤30V量程),士105mA (≤300V量程)


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轻松满足常用的测量需求

触摸屏幕上的任意图标,就会出现图像化设置屏幕。在测量前按照向导逐一设置,操作更直观。



提供的应用程序

-   序列扫描

-   自定义序列

-   数据记录仪:持续输出恒压源测试模式;持续输出恒流源测试模式

-   APD管

-   晶体管:MOSFET管测试;三极管测试

-   LIV:PIN管扫描测试

-   Gummer:双台源表使用同样参数进行扫描


*二极管完整l-V特性曲线


分立器件iv+cv测试仪应用领域:

分立器件特性测试:电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等器件;
能量与效率特性测试:LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器;
传感器特性测试:电阻率、霍尔效应等;
有机材料特性测试:电子墨水、印刷电子技术等;
纳米材料特性测试:石墨烯、纳米线等;
激光器特性测试:窄脉冲LIV测试系统;
功率器件:静态测试系统;
电流传感器:动静态参数测试系统;





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