测试测量仪器的用户除了电气工程师，出现越来越多非电子工程专业的技术人员，如电化学家、物理学家、材料科学家等，这些用户都需要快速得到测量数据，但缺少电气测量方面的基础和知识。另外，年轻的用户群体更倾向于使用便捷的操作界面和软件系统。为适应这些市场需求，S型数字源表全触屏方便操作的特性，使用户更快速地获得测试结果。

S型数字源表使用直观的触摸屏控制和图标化操作界面，令新用户通过简单操作快速获取测试结果，大大缩减学习仪器操作的时间，显著提高工作效率，同时将更多时间用于科研领域的发明和创新。那么武汉普赛斯生产的数字源表具体的测试功能有哪些呢？

半导体分立器件泛指二极管、三极管等具有单一功能的半导体元器件，用于电力电子设备的整流、稳压、开关、混频等电路中，是构成电力电子变化装置的核心器件之一，在消费电子、汽车电子、电子仪器仪表、工业及自动化控制、计算机及周边设备、网络通讯等众多国民经济领域均有广泛的应用。半导体分立器件市场前景广阔，根据基材不同，半导体分立器件可分为不同类型，以硅基半导体为基材时，半导体分立器件主要包括二极管(Diode)、三极管(BJT)、晶闸管(SCR)、场效应晶体管(MOSFET)、绝缘栅双极性晶体管(IGBT)等产品，以宽禁带材料半导体为基材时，半导体分立器件主要包括：SiC,GaN半导体功率器件。从需求端来看，分立器件受益于新能源、汽车电子、5G通讯射频等市场的发展，具有较大的发展前景。半导体芯片测试设备IV曲线快速扫描认准生产厂家武汉普赛斯仪表

普赛斯“五合一”高精度数字源表

分立器件特性参数测试是对待测器件（DUT）施加电压或电流，然后测试其对激励做出的响应，通常分立器件特性参数测试需要几台仪器完成，如数字万用表、 电压源、电流源等。然而由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、同步、连接、测量和分析，过程既复杂又耗时，又占用过多测试台的空间；而且使用单一功能的测试仪器和激励源还存在复杂的相互间触发操作，有更大的不确定性及更慢的总线传输速度等缺点。实施半导体分立器件特性参数分析的最佳工具之一是数字源表（SMU）。数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载，其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器、  波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统，支持四象限工作。普赛斯“五合一”高精度数字源表（SMU）可为高校科研工作者、器件测试工程师及功率模块设计工程    师提供测量所需的工具。不论使用者对源表、电桥、曲线跟踪仪、半导体参数分析仪或示波器是否熟悉，都能简单而迅速地得到精确的结果。

利用半导体芯片测试设备IV曲线快速扫描分立器件特性

丰富的半导体IV特性测试行业经验；

全面的解决方案：二极管、MOSFET、BJT、IGBT、二极管电阻器及晶闸管等；

提供适当的电缆辅件和测试夹具……