功率半导体可靠性测试数据采集卡特点：

插卡式设计，4通道/插卡，最高支持40通道

各通道互相隔离，通道间耐压＞500V

16位A/D分辨率

支持变速率采样，最高可达2MS/s采样率

支持大容量数据存储

采集精度高，多电压量程

软件兼容性广，支持Labview，C/C++等

技术参数：

功率半导体功率循环数据采集卡应用领域：

功率半导体功率循环，可靠性测试，以及其他工业场景等数据采集。

功率半导体可靠性测试数据采集卡，是一款普赛斯自主设计开发的插卡式，支持可变速率采样和大容量数据存储的高精度数据采集卡。

采集卡使用高性能ADC芯片，分辨率可达16bits，最高支持2MS/s采样率。单采集卡支持4通道，且通道间隔离。采集卡可应用于我司3插卡或10插卡主机上，单主机最高支持40通道。

产品具有采样速度快，分辨率高，通道互相隔离等特点，因此，可广泛应用于各类型功率半导体功率循环，可靠性测试，以及其他工业场景等数据采集。