纳米颗粒粒径检测：颗粒的大小称为粒度，通常球体颗粒的粒度用直径表示，立方体颗粒的粒度用边长表示。粒径是颗粒的直径。然而实际中的颗粒大多是不规则的，所以，为了更方便的描述颗粒的大小，在实际测算中，将不规则的颗粒等效为规则球，并以其直径作为颗粒的粒度。这就是“等效圆球理论”。
 

　　纳米颗粒粒径检测的方法主要有筛分法、光阻法、动态光散射、超声波法、沉降法、电阻法、激光散射/衍射法、电子显微镜和显微(图像)法。那么这几种方法各自具备哪些优点呢？
 

　　纳米颗粒粒径检测方法的优点介绍：
 

　　筛分法设备简单，操作简便，易于实行，设备造价低。
 

　　光阻法的测量精度较高繁琐。
 

　　动态光散射法具有准确、快速、可重复性好等优点。
 

　　超声波法可对高浓度浆料直接测量。
 

　　沉降法原理直观，分辨率较高，价格及运行成本低。操作简便，仪器可以连续运行，价格低，准确性和重复性较好，测试范围较广。
 

　　电阻法测量精度高，操作简便，测量速度快，重复性较好，通常范围在0.5～100μm。
 

　　激光散射/衍射法操作简便，测试速度快，测试范围广，重复性和准确性好，可进行在线测量和干法测量。测试速度快，自动化程度高，操作简便，重复性和真实性好，可以测试干粉样品，可以测量混合粉、乳浊液和雾滴等。
 

　　电子显微镜法适合测试超新颗粒甚至纳米颗粒，分辨力高，可进行形貌和结构分析。
 

　　显微(图像)法可以直接观察颗粒的形貌，可以准确地得到球型度、长径比等特殊数据，适合分布窄的样品。