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AND 无风负离子发生器 AD-1683A2
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面议HORIBA紧凑型pH计
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面议日本京都电子(KEM)便携式密度计DA-130N
面议安东帕密度计DMA 35 Standard 便携式密度计
面议安东帕DMA 35 Ex 便携式密度计
面议安东帕DMA 35 Basic 便携式密度计2
面议安东帕DMA 35 Basic 便携式密度计
面议日本KEM 京都电子便携式密度计/比重计 DA-130N
面议分体铝基涂层测厚仪YT4200-P7
面议奥地利进口 Anton Paar安东帕DMA 35便携式密度计
面议M Plan Apo NIR 5x 378-822-5近红外物镜Mitutoyo三丰
明视场用近红外区校正 物镜
M Plan Apo NIR /
M Plan Apo NIR HR
·无限远校正 ·明视场观察及激光加工用
·长工作距离 ·平场复消色差规格
· 对可见区(常用观察波长区)到近红外区(波长~1800nm)进行
了校正设计。
· NIR HR:高分辨力规格···分辨力提高 约50%以上(与标准型相比)
品 名货号
数值孔径
NA
工作距离
WD(mm)
焦距
f(mm)
分辨力
R(μm)
物镜单体的焦深
±D.F.(μm)
实际视场(mm) 重量
ø24目镜 1/2型相机 (纵×横) (g)
M Plan Apo NIR
M Plan Apo NIR 5× 378-822-5 0.14 37.5 40 2.0 14.0 4.8 0.96×1.28 220
M Plan Apo NIR 10× 378-823-5 0.26 30.5 20 1.1 4.1 2.4 0.48×0.64 250
M Plan ApoNIR 20× 378-824-5 0.40 20.0 10 0.7 1.7 1.2 0.24×0.32 300
M Plan ApoNIR 50× 378-825-5 0.42 17.0 4 0.7 1.6 0.48 0.10×0.13 315
M Plan ApoNIR 100× 378-826-15 0.50 12.0 2 0.6 1.1 0.24 0.05×0.06 335
M Plan Apo NIR HR
M Plan Apo NIR HR 50× 378-863-5 0.65 10.0 4 0.4 0.7 0.48 0.10×0.13 450
M Plan Apo NIR HR 100× 378-864-5 0.70 10.0 2 0.4 0.6 0.24 0.05×0.06 450
●上述规格栏中的分辨力和物镜单体焦深是根据基准波长(λ=0.55μm)计算得出的值。
注)使用的波长如果在1100nm以上,玻璃色散的变化和折射率等的测量可能会出现误差,略微偏离可见光的聚焦位置。
明视场用近红外区校正 物镜
M Plan Apo NIR B
·无限远校正 ·明视场观察及激光加工用
·长工作距离 ·平场复消色差规格
· 适用于YAG激光的基波、二次谐波的激光高透射率型产
品。对可见区420nm到近红外区1064nm进行了校正设计。
· 在维持NIR系列20×、50×的NA的基础上,实现了25.5mm
的超长工作距离,大幅提高了可操作性。
品 名货号
数值孔径
NA
工作距离
WD(mm)
焦距
f(mm)
分辨力
R(μm)
物镜单体的焦深
±D.F.(μm)
实际视场(mm) 重量
ø24目镜 1/2型相机 (纵×横) (g)
M Plan Apo NIR B
M Plan Apo NIR B 20× 378-867-5 0.40 25.5 10 0.7 1.7 1.2 0.24×0.32 350
M Plan Apo NIR B 50× 378-868-5 0.42 25.5 4 0.7 1.6 0.48 0.10×0.13 375
●上述规格栏中的分辨力和物镜单体焦深是根据基准波长(λ=0.55μm)计算得出的值。
注)使用的波长如果在1100nm以上,玻璃色散的变化和折射率等的测量可能会出现误差,略微偏离可见光的聚焦位置
主要特点
无限校正
用于通过 LCD 玻璃进行明场/近红外观察和激光加工
超长工作距离
计划复消色差规格
LCD 玻璃厚度为 1.1 毫米或 0.7 毫米的校正设计:适合透过玻璃进行高倍率观察。
* 如果您可以玻璃的厚度和材料(折射率),我们将设计和制造