菲希尔光谱测厚仪：SCOPE® X-RAY XDV®-SDD-昆山艾尔发计量科技有限公司手机版

详细介绍

可自动测量超薄镀层厚度和进行痕量分析

FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-SDD®是一款应用广泛的能量色散型X射线光谱仪。

它特别适用于无损分析超薄镀层，痕量分析，并可完成自动测量。

为了使每次测量都能在的条件下进行，XDV-SDD配备了可调节选择的准直器及基本滤片。

现代化的硅漂移接收器能够达到很高的分析精度及探测灵敏度。

由于有了大尺寸的准直器以及超高速脉冲处理器，仪器能处理非常高的计数率。

XDV-SDD型X射线光谱仪有着出色的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器了。

由于使用了基本参数法，无论是固体的镀层系统还是液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。

最多可同时测量从铝(13)到铀(92)的24种元素。

FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-SDD®光谱仪装备了高精度，可编程的X/Y平台和电力驱动的Z轴升降台，因而十分适用于自动测量分析超薄镀层或是痕量分析。