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iCE 3400 AAS 原子吸收光谱仪
面议iCE 3500 AAS 原子吸收光谱仪
面议iCE 3300 AAS 原子吸收光谱仪
面议iCAP™ 7200 ICP-OES 等离子体光谱仪
面议ICPS-8100顺序型等离子发射光谱仪
面议ICPS-7510顺序型等离子发射光谱仪
面议ICPE-9800系列全谱直读型电感耦合等离子体发射光谱仪
面议Nicolet™ iS20 FTIR光谱仪
面议875 KF 气体水分测定仪(875 KF Gas Analyzer)
面议870精锐plus实用型容量法卡氏水分测定仪
面议899库仑水分测定仪
面议917精灵一代 全自动卡氏库仑法水分测定仪
面议蔡司Crossbeam系列的FIB-SEM结合了场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)出色的成像和分析性能,和新一代聚焦离子束(FIB)优异的加工性能。无论是在科研或是工业实验室,您都可以在一台设备上实现多用户同时操作。得益于蔡司Crossbeam系列模块化的平台设计理念,您可以根据自己需求的变化随时升级仪器系统。在加工、成像或是实现三维重构分析时,Crosssbeam系列都将大大提升您的应用体验。
> 使用Gemini电子光学系统,您可以从高分辨率SEM图像中提取真实样本信息
> 使用新的Ion-sculptor FIB镜筒以及全新的样品处理方式,您可以大限度地提高样品质量、降低样品损伤,同时大大加快实验操作过程
> 使用Ion-sculptor FIB的低电压功能,您可以制备超薄的TEM样品,同时将非晶化损伤降到非常低
> 使用Crossbeam 350的可变气压功能
> 或使用Crossbeam 550实现更苛刻的表征,大仓室甚至为您提供更多选择
针对原位三维分析,首先需要准确定位 ROI,通过对感兴趣区域进行针对性的前期刻蚀准备后,完成进一步的 3D 成像及分析。在您的蔡司 Crossbeam 上加装飞秒激光系统,可大幅度提升样品制备效率。
> 快速实现高深度范围内的结构表征
> 大尺寸(毫米级)截面样品的加工
> 飞秒激光,有效避免热效应对样品的损伤
> 激光加工在独立的腔室内完成,不会污染电镜腔室
> 可与 X 射线显微镜进行关联,精准定位样品内部 ROI