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功能及特点
规格参数表（@1200g/mm光栅）
| Omni-λ750i系列 | |
| 焦距（mm） | 750 |
| 相对孔径 | F/9.7 |
| 光学结构 | C-T |
| 扫描步距（nm） | 0.005 |
| 杂散光 | 1X10-5 |
| 焦平面(mm) | 30 (w)X14 (h) |
| 光轴高度（mm） | 146 |
| 光栅规格mm | 68X68 |
| 光栅台 | 三光栅 |
| 狭缝规格 | 缝宽0.01-3mm连续手动可调，可选配自动狭缝。缝高：2、4、14mm可选 |
| 外形尺寸（mm） | 800X338X230 |
| 重量（Kg） | 32.5 |
| 功耗 | 峰值100W@24V |
| 通讯接口 | 标配USB2.0,可选RS-232 |
规格参数表@不同光栅
| 光栅（g/mm） | 2400 | 1800 | 1200 | 600 | 300 | 150 | 75 |
| 倒线色散(nm/mm) @435.83nm |
0.43 |
0.63 |
1.02 |
2.14 |
4.36 |
8.77 |
17.58 |
| 机械扫描范围（nm） | 0-600 | 0-800 | 0-1200 | 0-2400 | 0-4800 | 0-9600 | 0-19200 |
| 扫描步距（nm） | 0.0025 | 0.0035 | 0.005 | 0.01 | 0.02 | 0.04 | 0.08 |
| 光谱分辨率（nm） @ PMT |
0.02 |
0.03 |
0.03 |
0.06 |
0.12 |
0.24 |
0.36 |
| 光谱分辨率（nm） @CCD（15um） |
0.033 |
0.048 |
0.077 |
0.162 |
0.33 |
0.663 |
1.329 |
| CCD单次摄谱范围（nm） @30mmCCD |
12.9 |
18.9 |
30.6 |
64.2 |
130.8 |
263.1 |
527.4 |
| 波长准确度（nm） | ±0.1 | ±0.14 | ±0.2 | ±0.4 | ±0.8 | ±1.6 | ±3.2 |
| 波长重复性（nm） | 0.015 | 0.02 | 0.025 | 0.05 | 0.1 | 0.4 | 0.8 |
注1：分辨率的测试条件为中心波长435.83nm；
注2：CCD一次摄谱范围、倒线色散为中心波长为435.83nm下的典型值，随着中心波长增加，摄谱范围变窄；
注3：随着中心波长的增大，倒线色散数值减小，随着中心波长的减小，倒线色散数值增大。
| 型号 | 描述 |
| Omni-λ7504i | 750mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、CCD双出口、可同时安装三块光栅 |
| Omni-λ7505i | 750mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、狭缝直出口、可同时安装三块光栅 |
| Omni-λ7506i | 750mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、CCD直出口、可同时安装三块光栅 |
| Omni-λ7507i | 750mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、狭缝双出口、可同时安装三块光栅 |
| Omni-λ7508i | 750mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、CCD直出口、狭缝侧出口、可同时安装三块光栅 |
| Omni-λ7515i | 750mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、狭缝直出口、可同时安装三块光栅，红外镀膜 |
| Omni-λ7517i | 750mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、狭缝双出口、可同时安装三块光栅，红外镀膜 |
| Omni-λ7524i | 750mm焦距影像校正光谱仪，双入口、CCD双出口、可同时安装三块光栅 |
| Omni-λ7527i | 750mm焦距影像校正光谱仪，双入口、狭缝双出口、可同时安装三块光栅 |
| Omni-λ7528i | 750mm焦距影像校正光谱仪，双入口、CCD直出口、狭缝侧出口、可同时安装三块光栅 |
| Omni-λ7547i | 750mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、狭缝双出口、可同时安装三块光栅，紫外镀膜 |
| Omni-λ7548i | 750mm焦距影像校正光谱仪，侧入口、CCD直出口、狭缝侧出口、可同时安装三块光栅，紫外镀膜 |
注1：本型号系列，为手动狭缝（电动狭缝需要额外选择）；
注2：本型号系列，需要额外选配光栅，*多可配置3块光栅；
注3：本型号系列，不包含CCD接口法兰、滤光片轮、快门，这些附件需要额外选择；
注4：更多配置型号，请咨询本公司相关销售。
典型光谱仪Omni-λ7528i外形尺寸图：
