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蒸汽老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业、电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。微电脑温度控制器、LED数字显示,PID+SSR控制,白金电阻温度传感器(PT100),解析度0.1℃,。
结构特点:
老化箱整体不锈钢SUS #304 HL制成,操作设定简易 微电脑数位LED控制,具时间规划功能,zui大可设定9,990Mins 多重超温保护/缺水切电热等安全装置。 零件、连接器被动元件,半导体接脚高温高湿氧化试验。 金属接脚沾锡性试验加速老化试验。 采用式PID+SSR温度控制器,同时具有时间计时功能,可设定9990分式无限
技术规格参数:
内部尺寸:500×400×170(W×H×D)mm ;
外部尺寸:600×500×420(W×H×D)mm ;
内外箱体材质:SUS304#优质不锈钢板;
保温层:PV发泡胶
升温时间:大约40分钟 ;控制功能:PID+SSR,数字式显示;
蒸气温度: 97℃ ;
计时功能:1~9999H/M/S,附时到报警功能,时间到达后切断电源 ;
水位控制:低水位报警功能 ;
电源:1? 220V±10% 50Hz 1.0KW