Surfix 分体式统计型涂层测厚仪


Surfix 分体式统计型涂层测厚仪技术参数

测量原理 F性：电磁
N型：涡流
测量范围 0～1500μm
误差 ±(1μm +3%)
分辨率 0.1um或小于读数的千分之二
显示 四位数LCD显示，背景光
*小面积 5mm×5mm
*小曲率半径 凸面：3mm
凹面：50mm
*小基体厚度 F型：0.5mm
N型：50μm

校准 厂家校准、零校准、标准箔校准
数据统计 读数个数、平均值、标准偏差、*大值和*小值，*多10,000个
数据存储 *多80个读数；统计数据
报警 上下限可调，声音报警
数据接口 红外通讯
环境温度/表面温度 0～50℃/150℃
电源 两节5号电池，50小时寿命
仪器尺寸 140×62×30mm
探头尺寸 Φ14×83mm
重量 200g
保护级别 IP52(防灰尘、防滴水)
符合标准 DIN、ISO、ATSM、BS

Surfix 分体式统计型涂层测厚仪标准配置
主机、 探头、零板、标准箔、 电池、 便携软包、 操作手册