利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
镀层测厚仪X-Strata系列提供：
• 无损分析：无需样品制备
• 经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益
• 操作简单，只需要简单的培训
• 分析只需三步骤
• 杰出的分析准确性和精确性
• 在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验
使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，保证质量的同时降低成本。
产品优势
高性能、高精度、长期稳定性
• 快速精确的分析带来生产成本化
• 精确测定元素厚度
• 优化的性能可满足广泛的元素测量
坚固耐用的设计
• 可靠近生产线或在实验室操作
• 生产人员易于使用
简单的校准调试
• 在没有标准片时，经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果
• 方法建立只需几分钟
• 我们提供认证标准片以确保精确度（A2LA 和 ISO/IEC17025）
• 预置了多种校准参数
可分析多种样品形状和尺寸
• 可分析多种样品类型，从微小的电子元件到浴室配件
• 提供多种硬件供选配，满足各种需要
行业及市场
电子行业 - 有效控制生产过程，提高生产力
• 分析电子件上的金和钯的厚度，例如Au/Ni/Cu，Au/Pd/Ni/Cu
• 测量线路板上的可焊性，比如Ag/Cu/Epoxy
五金电镀行业- 电镀表面处理的成本最小化，产量
• 多样品和多点分析
• 单层或多层厚度测量
• 镀液成份分析
贵金属/金属合金 - 珠宝及其他合金的快速无损分析
• 黄金分析及其他元素测定
• 贵金属合金检测
X-Strata920 - 三种配置选项
X-Strata920 - 三种配置满足您的需要：
固定样品台
开槽式样品舱允许检测从小部件到大型平板样品等各种样品，如印制线路板。样品的尺寸可以超出仪器宽度
经济、实用
平面样品台设计，适合高度不超过1.3"(33mm)的样品分析
加深样品台
高度每英寸(25.4mm)可调，架构式样品舱可容纳高度6.3"(160mm)的样品
可以选4个样品盘中任一个来盛放不同高度的样品
开槽式样品舱允许检测从小部件到大型平板样品等各种样品，如印制线路板。样品的尺寸可以超出仪器宽度
程控样品台
用于自动化测量
方便根据测试位置放置样品，并精准定位测量点
开槽式样品舱允许检测大型平板样品，如印制线路板
样品台尺寸：22"(D) x 24"(w)，即560mm (深) x 610mm (宽)
