X-Strata980-台式XRF镀层测厚仪 X-Strata980-广州普伦仪器有限公司手机版

X-Strata980台式XRF镀层测厚仪 X-Strata980

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准

2023-04-07 08:20:10: 130

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产品简介

利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。

详细介绍

产品介绍

X-Strata980 – 灵活、多元素、无损的材料分析

一款全面强大的X射线荧光分析仪，能够检测各种大小的样品

快速、精确分析固体、液体和粉末

程控台的大样品舱方便样品摆放和测量（可选）

集成电脑节省了台式仪器的空间

高分辨率检测器使检测下限降到

应用广泛，包括光电池、RoHS有害元素筛选和贵金属分析