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CH－1－S薄膜测厚仪

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产品简介

本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准

技术参数:1. 量程：0-1mm　分度值：0.001mm
2. 上测头曲率半径：15-50mm
3. 测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N
4. 测量精度：
100vm以内＜1vm
100-250vm＜2vm
250vm＜3vm

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