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ATX2201 覆层测厚仪概述
ATX2201覆层测厚仪是一款便携式涂镀层测量仪,它能快速、无损伤、精密的进行涂镀层、覆层厚度的测量。即可用于实验室,也可用于工程现场。通过更换不同的侧头,还可以满足多种测量的需要。ATX2201 覆层测厚仪能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专用的仪器。
ATX2201覆层测厚仪符合以下标准:
ATX2201覆层测厚仪功能特点
l 采用了磁性和涡流两种测厚方法:既然无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金等)上非磁性覆层厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)又可测量非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层厚度(如:橡胶、油漆、阳极氧化膜等)
l 可使用9种测头(F400、F05、F1、F1/90°、F3、F10、N400、N1、N3)
l 具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
l 具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(A-B)
l 设有五个统计量:平均值、值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差
l 可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正
l 具有存贮功能:可存贮500个测量值
l 具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据
l 可设置限界:对限界外的测量值能自动报警
l 具有电源欠压指示功能
l 操作过程有蜂鸣声提示
l 具有错误提示功能,通过屏显或蜂鸣声进行错误提示
l 设有两种关机方式:手动关机方式和自动关机方式
l 采用塑料外壳,轻便、耐用
ATX2201覆层测厚仪技术参数
l 测头类型:可选,见涂层测厚仪探头参数表
l 测量范围:
1、0-1250um (F1、F1/90、N1) 0-40um(N1、N400探头 铜上镀铬)
2、0-400 um(F400和N400)
3、0-500 um(F05)
4、0-3000 um(F3、N3)
5、0-10000 um(F10)
l 低限分辨力:0.1um
l 探头连接方式:分体
l 示值误差:F | N
1. 一点校准(um):±[2%H+1]
2. 两点校准(um):±[(1%~3%)H+1]
3. 一点校准(um):±[2%H+1.5]
4. 两点校准(um):±[(1%~3%)H+1.5]
l 测量条件:F | N
1. 最小曲率半径(mm):凸1.5 | 凹9
2. 基体最小面积的直径(mm):ф7 (F10探头 ф40)
3. 最小临界厚度(mm):0.5
4. 最小曲率半径(mm):凸3 | 凹10
5. 基体最小面积的直径(mm):ф5
6. 最小临界厚度(mm):0.3
l 温湿度:0~40℃ | 20%RH~90%RH
l 统计功能:平均值、值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差
l 工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
l 测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
l 上下限设置:有
l 存储能力:500个测量值
l 关机方式:手动和自动
l 电源:两节1.5v电池
l 外形尺寸:50×120×25mm
l 重量:400g
ATX2201 覆层测厚仪基本配置
l ATX2201 覆层测厚仪主机
l F测头或N测头
l 标准片一套
l 铁基体或铝基体
l 电池
l 使用说明书
可选,见涂层测厚仪探头参数表如下
F型:
探头型号 | F400 | F05 | F1/F1/90° | F3 | F10 | |||
工作原理 | 磁 感 应 | |||||||
测量范围(mm) | 0~400 | 0~500 | 0~1500 | 0~3000 | 0~10000 | |||
低限分辨力(mm) | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 1 | |||
示值 误差 | 一点校准(mm) | ±(3%H+0.7) | ±(3%H+0.7) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1) | ±(3%H+10) | ||
二点校准(mm) | ±(1%H+0.7) | ± (1%H+0.7) | ± (1%H+1) | ± (1%H+1) | ±(1%H+10) | |||
测试 条件 | 最小曲率半径(mm) | 凸 | 1 | 1 | 1.5 | 平直 | 5 | 10 |
最小面积的直径(mm) | F3 | F3 | F7 | F10 | F40 | |||
基体临界厚度(mm) | 0.2 | 0.2 | 0.5 | 1 | 2 | |||
N型
探头型号 | N400 | N1 | N3 | |||||||
工作原理 | 涡 流 | |||||||||
测量范围(mm) | ( 铜上镀铬 0~40) | 0~1500
| 0~3000 | |||||||
低限分辨力(mm) | 0.1 | 0.1 | 1 | |||||||
示值 误差 | 一点校准(mm) | ±(3%H+0.7) | ±(3%H+1.5) | ±(3%H+3) | ||||||
二点校准(mm) | ±(1%H+1) | ±1%H+1.5) | ±(3%H+3) | |||||||
测试 条件 | 最小曲率半径(mm) | 凸 | 1.5 | 凸 | 3 | 6 | ||||
最小面积的直径(mm) | F4 | F5 | F7 | |||||||
基体临界厚度(mm) | 0.3 | 0.3 | 1 | |||||||