ATX211涂层测厚仪概述

ATX211涂层测厚仪配置嵌入式传感器，采用磁阻法和涡流法，可测量磁性基体上非磁性涂镀层厚度以及非磁性基体上非导电涂镀层厚度，本仪器具有高精度、性能稳定，操作简单、可用于现场应用等特点，配置集成式测量探头，应用磁阻法或电涡流测量原理可快速而无损地测量涂镀层厚度。广泛应用于表面涂镀业、船舶制造、汽车制造、桥梁工程、航空制造、化工等领域。

符合以下工业规范和标准：

• GB/T 4956-2003 磁性基体上非磁性覆盖层 覆盖层厚度测量 磁阻法
• GB/T 4957-2003 非磁性基体金属上非导电覆盖层 覆盖层厚度测量涡流法
• JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪
• JJG 818-2018磁性、电涡流式覆层厚度测量仪

ATX211涂层测厚仪原理

本仪器采用磁性法和涡流法两种测量原理，工作原理如下：

1)磁性法（F型测头）：可测量导磁性金属基体（如钢、铁合金钢、硬磁性钢等，但不包括奥氏体钢和软磁性钢等）上非磁性涂镀层（如油漆、陶瓷、橡胶、铝、铬、铜、锡等）的厚度。

当测头接触铁磁基体（或其他磁性金属）时形成一闭合磁路，由于涂镀层的存在，穿过线圈的磁通量与涂镀层厚度的变化会导致磁路磁阻发生变化，通过测量其变化便可计算和推导出涂镀层的厚度。

2)涡流法（N型测头）：可测量测量非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆盖层的厚度（如：橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等）。当测头靠近金属基体时，由于高频交变电流在线圈中产生了电磁场，金属基体会形成电涡流并对线圈产生反馈，随后通过测量反馈量的大小可推导出相对应的厚度值。

ATX211涂层测厚仪技术参数

• 测量方法：磁阻法及涡流法
• 测量范围：0~1500μm(0~60mil)
• 分辨率：0~999μm:0.1μm,           ≥1000μm:1μm
• **度：低于100μm:±1.5 μm;     100~1500 μm:≤1.5%
• 数据存储量：1500条
• 显 示：LCD背光图像显示
• 电 源：1.5VX3(AAA-型电池）
• 使用温度：0~50℃
• 规 格：88x67x30mm
• 重 量：120g

ATX211涂层测厚仪标准配置

• 涂层测厚仪        1台
• 标准厚度片        6片
• 校准基体          2个
• AAA1.5V 碱性电池  3节
• USB 数据线        1根
• 随机文件          1套

ATX211涂层测厚仪可选件

• 微型打印机1
• 充电器1