ATX210覆层测厚仪概述
ATX210覆层测厚仪是磁性、涡流一体的便携式数字覆层测厚仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量;既可用于实验室,也可用于工程现场;广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;是材料保护专业的仪器。
ATX210覆层测厚仪符合以下标准:
- GB/T4956-1985 磁性方法
- GB/T4957-1985 涡流方法
- JB/T8393-1996 磁性和涡流覆层测厚仪
- JG889-95 《磁阻法测厚仪》
- JJG818-93 《电涡流式测厚仪》
ATX210覆层测厚仪功能特点
1.磁性金属基体(如钢、铁、合金等)上非磁性覆层厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)
2.非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层厚度(如:橡胶、油漆、阳极氧化膜等)
- 具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
- 具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
- 设有五个统计量:平均值、值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差
- 可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正
- 具有存贮功能:可存贮100 个测量值
- 具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据
- 可设置限界:对限界外的测量值能自动报警;并可用直方图对一批测量值进行分析
- 具有电源欠压指示功能
- 操作过程有蜂鸣声提示
- 具有错误提示功能,通过屏显或蜂鸣声进行错误提示
- 设有两种关机方式:手动关机方式和自动关机方式
ATX210覆层测厚仪技术参数
- 测头类型:F | N
- 测量原理:磁感应 | 电涡流
- 测量范围:0-1500um | 0-1500um 0-40um(铜上镀铬)
- 低限分辨力:0.1um
- 探头连接方式:一体化
- 示值误差:F | N
1.一点校准(um):±[2%H+1]
2.两点校准(um):±[(1%~3%)H+1]
3.一点校准(um):±[2%H+1.5]
4.两点校准(um):±[(1%~3%)H+1.5]
1.最小曲率半径(mm):凸1.5 | 凹9
2.基体最小面积的直径(mm):ф7
3.最小临界厚度(mm):0.5
4.最小曲率半径(mm):凸3 | 凹10
5.基体最小面积的直径(mm):ф5
6.最小临界厚度(mm):0.3
- 温湿度:0~40℃ | 20%RH~90%RH
- 统计功能:平均值、值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差
- 工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
- 测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
- 上下限设置:有
- 存储能力:100个测量值
- 关机方式:手动和自动
- 电 源:二节AAA型(7号)电池
- 外形尺寸:110×50×23mm
- 重 量:100g
ATX210覆层测厚仪基本配置
- ATX210覆层测厚仪主机
- 铁基体和铝基体
- 标准片一套|五片
- 二节AA型(5号)1.5V电池
- 使用说明书
ATX210覆层测厚仪可选附件