品牌
其他厂商性质
所在地
LS71-UV型冲击试样缺口专用手动拉床
面议LS72-U(V)手动单刀冲击试样缺口拉床
面议L72-UV电动夏比冲击试样缺口拉床
面议LY71-UV液压夏比冲击试样缺口拉床
面议美国 MODEL 268A 平板式离子风机综合测试仪
面议美国TREK公司 MODEL156A离子风机综合测试仪
面议美国Trek MODEL157 离子风机检测分析仪
面议美国ME-287A离子风机测试仪
面议QUICK 432离子风机测试仪
面议美国 Monroe ME-268A 离子风机测试仪
面议Monroe 288B离子风机测试仪
面议SCS 770004 离子风机测试仪 充电板监测仪
面议IS6-C-VIS 积分球式硅探测器
IS6-C(用于准直光束)P/N7Z02474描述:
IS6-C-VIS是一个6”积分球(内部5.3”),用于准直(C)光束。不配备探测器,由用户完成IS6-C的探测配置。也可将其用作均匀光源。
IS6-C-VIS(用于准直光束)P/N7Z02470
描述:
IS6-C-VIS是一个6”积分球(内部5.3”),带有一个用于准直(C)光束的硅探测器。IS6-C-VIS配有可见光探测器,校准范围为400至1100nm,*高可测量30W的功率。
发散光测量
有三种方法可测量发散光和激光:一种方法是积分球,其用于捕获进入的所有光线。二种方法是简单地使用一个超大孔径,使其靠近光源,以包含大部分或所有功率。*后一种方法是测量功率或能量密度。在这种情况下,不需要所有激光投中传感器
IS6-C-VIS 积分球式硅探测器