BSD-PS-硅微粉比表面及孔径分析仪-北京贝士德分析仪器研究院手机版

详细介绍

硅微粉比表面及孔径分析仪

测试原理：

在液氮温度下（77.3k），向装有吸附剂的样品管内投入一定量的吸附质气体（N2），吸附过程（脱附）达到动态平衡后，系统前后将发生压力变化，通过气体状态方程：PV=nRT，计算得到该分压点的吸附量。然后绘制分压-吸附量的吸附脱附等温线曲线，根据不同比表面积理论计算模型计算得到样品的比表面积和孔径分布。

测试理论：

◆ 吸附、脱附等温线；

◆ BET单点法，多点法比表面；

◆ 朗格缪尔（Langmuir）比表面；

◆ 统计吸附层厚度法外比表面（STSA）；

◆ 粒度估算报告和真密度；

◆ BJH法吸脱附孔容孔径分布；

◆ MK-plate法（平行板模型）孔容孔径分布；

◆ t-plot法微孔分析；

◆ MP法(Brunauer) 微孔分析；

◆ D-R法微孔分析；

◆ HK法微孔分析；

产品特点及：

◆ 2个样品预处理脱气站，1个样品分析站；

◆ 全程自动化智能化运行，无需人工值守；

◆ BEST多路歧管模块，英福康检漏仪出厂检测；

◆ 预处理：具有“普通加热抽真空模式”和“分子置换模式”两种可选功能；

(名称：静态法比表面及孔径分析仪的净化预处理装置号：ZL2011201369439)；
◆ 贝士德的脱气位滤尘袋，*消除对仪器内部结构的污染
(名称：具有脱气位滤尘袋装置的静态法物理吸附仪.号：ZL.3)

◆ 非阻隔式防污染装置，*解决样品污染系统；

(名称：具有除尘防污染装置的静态容量法比表面及孔径分析仪.号：ZL.X)
◆ 独立P0测试站
具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。
(名称：静态法比表面及孔径分析仪的饱和蒸气压测试装置.号：ZL.X)
◆ 饱和蒸气压螺旋P0管：
采用螺旋状的P0管作为饱和蒸汽压管，与仪器主机连接，能够更快的达到液氮温度，使得测试的饱和蒸汽压更接近真实值(与进口等温夹的效果一样，解决了直形不锈钢P0管测试结果偏大2%的问题)。
(名称：饱和蒸气压螺旋P0管及静态法比表面及孔径分析仪.号：ZL.2）

◆ 独立的高精度饱和蒸汽压（P0）实时测试站；

◆ 智能投气量控制，提高实验效率；

◆ 脱气处理：2.4个预处理站可选，采用全自动程序控制，定时开始、真空泵自动启停、程序升温、定时结束，可实现无人值守测试和样品脱气处理。

◆ 智能自检流程，智能判断样品管是否安装，试管夹套是否拧紧有无漏气；

◆ 自动加盖：仪器必须具有液氮杯自动加盖功能，能够有效的减少液氮的挥发，同时也可避免水蒸气在杜瓦杯口和样品管上冷凝结冰；

(名称：加盖装置及静态法比表面及孔径分析仪.号：ZL.40)

◆ 详尽的仪器运行日志显示与记录，可精确到秒，全程实验记录可追溯；

仪器实物图：

标签：BET 比表面积 DFT 理论计算 Langmuir 微孔材料 介孔材料

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