UM-2超声波测厚仪具有zui小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或zui小厚度值；数据存储；报警功能。UM-2超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

工作原理 ：脉冲～回波方式
测量范围 ：0.8～300mm

取决于所用探头、所测材料、表面状况

单位和显示分辨率：毫米-0.01，0.1

英寸-0.001，0.01

探头零点校准

一点校准（用于常规的厚度测量）

两点校准（测量曲面壁厚或特殊应用时，可显著提高测量精度
V路径修正 ：自动V声程修正，补偿双晶探头的非线性度
示值误差 ：±0.05mm （10mm以下）；±0.5% H+0.01 （10mm以上）注：H为被测物厚度

重复性 ：±0.05mm
显示屏 ：128×64点阵液晶屏（42×57毫米）具有EL背光，可调节对比度；厚度值数字高度可达13.75毫米
测量刷新频率 ：常规测量时4Hz，zui小值扫查时25Hz
材料声速范围 ：1000～9999m/s，0.0394～0.3937in/us
数据存储 ：划分5个数组，可存储500个厚度值
工作语言 ：中文、英文
电源 ：两节1.5VAA电池 当电池电量不足时，有低电压提示
操作时间 ：两节5号电池，使用时间可达200小时
自动关机 ：5分钟无操作后自动关机
工作温度 ：-10℃～+50℃，有特殊要求可达-20℃
尺寸 :149mm×73mm×32mm （H×W×D）
重量 :含电池200g
标准配置
UM系列测厚仪
标配探头
仪器箱
两节碱性电池
耦合剂
操作手册
合格证
装箱单
选配件
橡胶外套；众多可供选择的探头；校准用阶梯试块；耦合剂及高温耦合剂