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雅马拓 吸光光度计PAS-110-YU|手持式
面议美谱达 UV-1800PC 紫外可见分光光度计
面议岛津 荧光分光光度计RF-6000
面议美谱达 V-1800PC 可见分光光度计
面议美谱达 V-1600PC 可见分光光度计
面议美谱达 V1600 可见分光光度计
面议美谱达 UV-1800 紫外可见分光光度计
面议美谱达 V-1100D可见分光光度计
面议岛津 原子吸收分光光度计AA-7000
面议上分 火焰光度计FP6450/FP6440/FP6432/FP6431/FP6430
面议岛津 紫外可见分光光度计SolidSpec-3700/3700DUV
面议美谱达 P5 双光束 紫外/可见分光光度计
面议
250μm微区分布成像分析功能!
XRF-1500/1700系列X射线荧光光谱仪是在首先开发出微区分析/分布分析功能,采用了4KW薄窗X射线管,扩大了X射线荧光分析的应用领域,作为具有革命性的仪器而得到了很高评价,业已销售200余台。
扫描型X射线荧光光谱仪 XRF-1800型从仪器的硬件与软件在许多细节都进行了改进,使得仪器的可靠性与可操作性更进一步提高,增加了250μm微区分布成像分析功能,从而达到更高水平的程度。作为高灵敏度和微区分析的,岛津公司非常自信地向用户奉献出XRF-1800型X射线荧光光谱仪。
可分析不均匀样品的含量分布、强度分布。
· 利用高次谱线进行准确的定性/定量分析(申请中) 高次谱线的判定更加准确,提高了定性定量分析的准确度/可靠性。
· 测定高分子薄膜的膜厚与无机成分分析的背景基本参数(BG-FP)法 利用康普顿散射/瑞利散射的强度比计算出荧光X射线分析不能得到的氢(H)元 素的信息。高分子薄膜分析中,利用康普顿散射线的理论强度作为高分子薄膜 的信息。 使用XRF-1800进行的膜厚测定、薄膜测定实例 · 微区分析结构 · 利用CCD相机可以直接观察样品(选配件) · 配备高可靠性、长寿命的4kW薄窗X射线管 · 集成岛津技能精华的模块功能,匹配分析功能 |
※如有外观及规格变动,恕不另行通知。