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梅特勒HX204卤素水分测定仪测量性能,梅特勒HX204卤素水分测定仪准确而快速的结果,梅特勒HX204卤素水分测定仪30 秒即可清洁,梅特勒HX204卤素水分测定仪秤盘下方的表面很平坦,密封,卤素水分测定仪能够快速而轻松地进行清洁。
可读性 | 0.01% / 0.001% |
重复性 (sd)(2 g 样品) | 0.05% |
重复性 (sd)(10 g 样品) | 0.01% |
显示模式 | % MC, % DC, % ATRO MC/ DC, g, g/kg MC, g/kg DC |
量程范围 | 200g |
可读性 | 1mg/0.1mg |
温度范围 | 40-230°C |
上盖打开 | Motorized |
称量单元测试 | 任意质量点的示值误差、默认 100g |
加热单元测试 | 在校正点和任意设置温度时的 2 点温度校准 |
全自动校准技术 (FACT) | 是 |
称量单元校正 | 任意质量点的示值误差、默认 100g |
加热单元校正 | 任意定义温度时的 2 点温度校准(默认:100/160°C) |
升温程序 | 标准、温和、快速、阶梯 |
方法存储 | 300 |
控制图表 | 是 |
干燥曲线 | 是 |
合格/不合格判定 | 是 |
水平控制 | 水平控制系统 (LevelControl),具有警告功能 |
悬挂式秤盘
卤素水分测定仪创新的悬挂式秤盘设计避免了加样腔的热量对秤盘的影响,通过消除对称量单元的负面热效应,改善测定结果。卤素水分测定仪高性能 MonoBloc 称量单元可提供量程和分辨率(200g,0.1mg,(HX204 型号)),卤素水分测定仪可满足要求最严苛的任务。
第二代卤素灯加热技术
卤素水分测定仪超越品质。卤素水分测定仪第二代卤素加热技术减少了热物质,通过缩短加热/冷却循环及精确的温度控制增强性能。卤素水分测定仪采用冷仪器进行测量,与随后采用热仪器进行测量的精确程度相同。
卤素水分测定仪光滑而密封的表面
称量单元在仪器后面,溢出的样品将不再会损坏称量单元。卤素水分测定仪秤盘下方的表面很平坦,密封,卤素水分测定仪能够快速而轻松地进行清洁。