详细介绍

PG70ABDL 精密测厚仪

PG70ABDL 的屏幕可选分辨率为0.01mm 或0.001mm（0.001/0.0001英寸），可同时用A型和B型扫描来

仪表的自动寻找功能可以定位监测点，调节显示屏设置以显示波形。

仪表的高速扫描功能加速了检测过程，达到每秒32次测量。从被测材料上移开传感器，显示屏就会显示扫描的最小测值。

用户可设置上下限，通过视觉和听觉的警报来察觉具体的应用偏差。

特点:

Pulsed Echo (P-E) Measurement Mode Interface Echo (I-E) Measurement Mode Echo Echo (E-E) Measurement Mode B-Scan Display Mode A-Scan Display Mode

PG70ABDL 特征解释

重复性/稳定性指示条

易高系列拥有6个竖条信号，当所有竖条全亮并且数字测厚仪上的位数字稳定时，仪器即可得出可靠的测量结果。

显示最小厚度的高速扫描显示屏

通过快速增加测量数据的刷新率，这种模式可以使用户扫描被测试材料。仪器会自动保存下最小的厚度值并且在扫描结束

之后显示出来。这个模式也可与极限报警模式一起使用（取决于产品型号）。

差分模式

一旦用户自定义的标称厚度值被设置后，仪器将会用+/-号来显示输入标称值的厚度差。

极限报警模式

用户可以定义最小和厚度极限。如果测量值超出上限或下限，红色LED亮起，蜂鸣器响起。绿色LED亮起指示可接受厚度。

V-型路径校正模式

双晶传感器由一个带两个晶体的探头组成（一个传输，一个接收声脉冲）。晶体被一个隔音屏障

分开-声音从一个晶体传到另一个晶体，产生一个V型路径。由于时间/厚度的关系是非线性的，

V-路径校正模式就用来弥补这个错误。

PG70ABDL 测量模式介绍

脉冲-回波模式 (PE）: 标准显示模式，测量从传感器探头基体到材料密度边界（通常是背面）的总厚度。适合凹洞和瑕疵的检测。

回波-回波模式（EE）: 又被称作ThruPaint™模式，可以忽略掉涂层的厚度，显示的是从表面到材料密度边界的直接厚度。

界面-回波模式（IE）: 比PE模式更准确。IE模式显示从表层到材料密度边界的总厚度，即可忽略耦合剂的厚度。

PG70ABDL 显示模式

材料厚度数字显示模式:

所有型号的标准显示模式，以毫米或英寸为单位，用数字来显示厚度值。

扫描栏显示模式:

一个线性的图形显示模式，允许用户能够图形化地监控厚度读数的变化。因为度数范围可以由

用户自行调节，这种显示模式是观察材料厚度微小变化的理想选择。

B扫描显示模式:

坐标式显示，纵坐标代表探头的扫描轨迹，横坐标代表超声波的传播时间，以图形化的方式来

显示材料厚度，非常适合做深度对比分析。

A扫描显示模式---全波型(RF）:

A扫描显示被测材料的反射声音或震荡的正弦波。RF模式显示的是全波。

A-扫描显示模式---半波型（正波形/负波形）:

用户可以选择浏览整个波（RF）的正波形或者负波形。这种半波形(RECT)模式显示整个过程的振幅。